M6 JETSTREAM用于文物樣品檢測
主要特點：
1.M6 JETSTREAM不僅可以分析水平放置的樣品，還可以分析垂直放置的樣品。
2.在高激發(fā)強度以及樣品臺的快速移動情況下，仍可實現(xiàn)快速檢測。
3.M6 JETSTREAM的光斑大小可以在5步之內(nèi)，根據(jù)樣品結(jié)構(gòu)及所需空間分辨率調(diào)整到相應(yīng)的尺寸。
4.采用布魯克*的XFlash®硅漂移探測器，該探測器具有很高的計數(shù)率能力，在很寬的計數(shù)率范圍內(nèi)擁有的能量分辨率。
5.特別的安全電路為用戶提供的X射線輻射風險防范措施。
6.超聲波測距措施可以防止儀器與被測樣品發(fā)生碰撞。
7.由于M6 JETSTREAM的可移動性，不論樣品結(jié)構(gòu)如何，它都可以很容易的準確定位。另外，M6 JETSTREAM可以很方便的拆卸成四部分，使其便于攜帶。
X射線熒光能譜儀M4 TORNADO
儀器簡介：
微區(qū)X射線熒光光譜分析技術(shù)是對不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析的*方法。采用多導毛細管聚焦鏡將激 發(fā)光聚焦到非常小的區(qū)域，以獲得的空間分辨率，進行快速分析。任何類型的樣品都可以通過簡單的樣品制備甚至不制備直接進行分析。
測定鍍層樣品厚度及成分
采用X射線熒光技術(shù)的M4可以分析薄鍍層樣品，如印刷電路板、金屬或塑料件，包括單層鍍層和多層鍍層。XSpect軟件采用無標樣基本參數(shù)法，可以同時計算鍍層厚度和鍍層組成。使用標準樣品進一步提高定量分析的準確性
RoHS檢測
測量一個PCB樣品。u安蘇的面分布圖顯示了下列元素的分布情況：Br(綠色）、Cu（紅色）、Au（黃色）、Pb（白色）和Sn（粉紅色）
圖像的原始大小：250×75像素
測量時間：0.15s/像素
主要特點：
M4 TORNADO采用了全新的技術(shù)，為各種用戶提供了的分析性能和非常方便的操控性。
采用多導毛細管聚焦鏡，照射光斑zui小，空間分辨率zui高。
渦輪增速X-Y-Z樣品臺，借助放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)獲得高品質(zhì)的樣品影像，可在“飛行中”進行元素分布分析。
高強度的X射線光管與多導毛細管聚焦鏡相結(jié)合，確保在非常小的照射區(qū)域內(nèi)獲得非常高的激發(fā)強度。采用濾光片和可以同時使用的配有不同靶材的雙光管，可以根據(jù)不同的分析要求，優(yōu)化激發(fā)光譜。
使用XFlash®探測器超高速地獲取樣品圖譜，另外，使用多個探測器可以進一步提高測量速度。
采用無標樣分析法精確定量分析塊狀樣品，精確分析多層膜樣品。
可抽真空的樣品室配有自動門，大尺寸的樣品室可以放置各種尺寸的樣品。通過兩個放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)觀察樣品（整體觀察和分析區(qū)域的細致觀察），便捷進樣功能和自動對焦功能可以進行快速而精確的定位。通過用戶編輯的X-Y-Z樣品臺運行程序可實現(xiàn)重復(fù)測量。
