升降式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
用途:
冷熱沖擊試驗(yàn)箱為材料研究及工業(yè)生產(chǎn)廠家的批量或者電子電器零部件﹑自動(dòng)化零部件、半成品﹑金屬、化學(xué)材料、通訊元件、國(guó)防工業(yè)、 航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳電子芯片、IC、半導(dǎo)體、陶磁及高分子材料或復(fù)合材料之物理牲變化提供了溫度突變嚴(yán)酷溫度環(huán)境測(cè)試條件,測(cè)試其在瞬間經(jīng)高溫、低溫的連續(xù)溫度變化環(huán)境下所能忍受的程度,試驗(yàn)其在急遽變化的溫差條件下熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化和物理傷害??勺鳛槠洚a(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考,及產(chǎn)品可靠性的鑒定測(cè)試。
TSD-50S-2P技術(shù)參數(shù): 型號(hào):TSD-50S-2P 內(nèi)容積:50L 內(nèi)型尺寸:W350*H350*D400mm(即提籃尺寸) 外型尺寸:W1650*H1800*D1450mm 高溫測(cè)試區(qū): 高溫室:+60℃→+180℃ 升溫時(shí)間:升溫 +20℃→+180℃ ≤25min 注:升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
低溫測(cè)試區(qū): 溫度范圍:-60℃~-10℃ 降溫時(shí)間:降溫 +20℃ → -60℃≤65min 注:降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
|
升降式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
材質(zhì):
溫度沖擊試驗(yàn)箱份兩箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱和三箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱。
兩箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱整體結(jié)構(gòu):試驗(yàn)箱由預(yù)熱室、預(yù)冷室、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、風(fēng)道系統(tǒng)、電器控制系統(tǒng)組成。預(yù)冷室位于試驗(yàn)箱后上部,預(yù)熱室位于試驗(yàn)箱前下部,制冷機(jī)給位于試驗(yàn)箱的后下部,電器控制柜位于試驗(yàn)箱右側(cè)。
三箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱整體結(jié)構(gòu),試樣物品*靜止。試驗(yàn)箱由預(yù)熱室、預(yù)冷室、工作室、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、風(fēng)道系統(tǒng)、電器控制系統(tǒng)組成。工作室位于試驗(yàn)箱中部,高溫室位于試驗(yàn)箱下部,低溫室位于試驗(yàn)箱上部,制冷機(jī)系統(tǒng)位于試驗(yàn)箱的后下部,電器控制柜位于試驗(yàn)箱右側(cè)面上部。
溫度范圍:低溫(-40/-55/-65)~高溫+100℃
高溫沖擊范圍:+60℃~+100℃
低溫沖擊范圍:0℃~-65℃;
升溫時(shí)間(蓄熱區(qū)) :RT~180℃約需35min
降溫時(shí)間(蓄冷區(qū)) :RT~-70℃約需85min
溫度恢復(fù)時(shí)間/轉(zhuǎn)換時(shí)間: ≤5min內(nèi) / ≤10sec內(nèi)
溫度控制精度/分布精度: ±0.5℃ / ±2.0℃
外部材質(zhì):內(nèi)箱為SUS 304#不銹鋼板霧面處理,外箱為冷軋鋼噴塑處理或不銹鋼
保溫材質(zhì):耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料
控制器:自主研發(fā)AP-5199溫度沖擊控制系統(tǒng)
通訊功能:USB接口,RS-232接口
壓縮機(jī):德國(guó)"比澤爾"