| 項目 | 規(guī)格 |
|---|---|
| 產地 | 日本 |
| 測定元素范圍 | 鋁（Al13）～鈾（U92），大氣環(huán)境 鈉（Na11）～鈾（U92），真空環(huán)境 |
| 樣品型態(tài) | 固體、液體、粉末 |
| X射線源 | X射線管（Rh靶） 管電壓： 15 kV, 50 kV（可調式） 管電流：1mA（10~1000µA，自動調整zui適電流輸出） |
| X射線照射方向 | 下方垂直照射型 |
| 檢測器 | 新式專liSDD硅半導體檢測器 |
| 冷卻方式 | 電子冷卻（不需液態(tài)氮） |
| 準直器（分析區(qū)域） | 1、3、5 mmΦ（自動切換） |
| 樣品觀察 | 高分辨率彩色CCD鏡頭 |
| 濾波器 | 5種模式（自動切換） |
| 樣品室 | 304(W)×304(D)×110(H) mm |
| 儀器尺寸 | 520(W)×600(D)×445(H) mm |
| 重量 | 69Kg（不含計算機） |
| 定性分析功能 | ■ 元素分析 ■ 能譜比對 ■ 數(shù)據(jù)庫自動辨別比對 |
| 定量分析功能 | ■ RoHS有害物質分析 ■ 無鹵規(guī)范有害物質分析 ■ EN71-3有害物質分析 ■ 金屬電鍍膜厚測定 ■ 元素分析FP法 ■ 元素分析檢量線法 ■ HS快速分析模式 |
| 標準配件 | ■ 桌面計算機（含屏幕、鼠標、鍵盤） ■ RoHS有害物質標準品（日本JAB一級認證標準品） ■ 儀器硬件確認試片（含強度、能量、分辨率及X光徑） ■ 專用樣品杯 ■ 專用測試薄膜 |
| 選配 | ■ 轉盤型自動進樣器 ■ 多種環(huán)境限制用標準物質（無鹵、EN71-3、膜厚 、 銻Sb、錫Sn、磷P、硫S） ■ 金屬膜厚標準品 |
| 設置需求 | 建議桌面尺寸：1500(W)×1000(D) mm 使用電源：AC100～240V（50～60Hz）/180VA |
昆山嘉富億電子科技有限公司是日本精工（Seiko）桌上型X射線熒光元素分析儀(XRF)、美國Innov-X便攜式XRF分析儀等國外儀器在華東地區(qū)的代理商。
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日本日立儀器
EA1400-日本日立桌上型X射線熒光分析儀 產品信息
