S916數(shù)顯介質損耗測試裝置與ZJD-B/ZJD-C
配合使用補充說明
因ZJD-B/ZJD-C型Q表增加了介質損耗系數(shù)tgδ的測試功能，特
增加此S916數(shù)顯介質損耗測試裝置與ZJD-B/ZJD-C配合使用補充說明。ZJD-B/ZJD-C型Q表的介質損耗系數(shù)tgδ的測試功能省去了人工的計算，將大大地方便介質損耗系數(shù)tgδ的測試。有關S916介質損耗測試裝置的使用可參閱S916數(shù)顯介質損耗測試裝置使用說明。
使用方法
把S916介質損耗測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端子上。
在電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時電感取250uH，15MHz時電感取1.5uH。
先測出損耗測試裝置在測試狀態(tài)下的機構電容CZ
a. 把被測樣品插入二極片之間，調節(jié)平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調節(jié)時要用測微桿，以免夾得過緊或過松）。然后取出平板電容器中的樣品，
但要保持平板電容器間的間距不變。
b. 改變Q表上的主調電容容量，使Q表處于諧振點上；電容讀數(shù)記為C1。
c. 然后取下測試裝置，再改變Q表上的主調電容容量，重新使之諧振，電容讀數(shù)記為C3，此時可計算得到測試裝置的電容為CZ = C3 －C1
4．介質損耗系數(shù)的測試
a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端上。
把被測樣品插入二極片之間，改變Q表上的主調電容容量，使Q表處于諧振點上。然后按一次 Q表上的小數(shù)點（tgδ）鍵，在顯示屏上原電感顯示位置上將
顯示C0= x x x，此時可輸入分布電容值。分布電容為機構電容CZ和電感分布電容C0（參考電感的技術說明）的和。分布電容值輸入的有效位為3位，0.1pF至99.9 pF，輸入時不需輸入小數(shù)點，只需輸入3位有效數(shù)。例0.1pF，只需輸入
001；99.9pF，只需輸入999。
同時，顯示屏上原C和Q顯示變化為C2和Q2。
b．取出平板電容器中的樣品，（保持平板電容器間的間距不變）這時Q表又失諧，再改變Q表上的主調電容容量，使Q表重新處于諧振點上。
c. 第二次按下 Q表上的小數(shù)點（tgδ）鍵，顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1，同時顯示介質損耗系數(shù)tn =．x x x x x ，即完成測試。
5.出錯提示，當出現(xiàn)tn = NO 顯示時，說明測試時出現(xiàn)了差錯，發(fā)生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯誤情況。
北京航天縱橫檢測儀器有限公司
注： S914介質損耗測試裝置也可參照S916數(shù)顯介質損耗測試裝置與ZJD-B/ZJD-C配合使用 ，使用時把S914的圓桶電容器置于一個固定位置。
ZJD-B型介電常數(shù)及介質損耗測試儀
技術參數(shù)：
*1.信號源: DDS數(shù)字合成信號 10KHZ-70MHZ
*2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)
3．Q值測量范圍：1～1023
4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；
*5．電感測量范圍：1nH～8.4H 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能
*6．電容直接測量范圍：1pF～2.5uF
*7．主電容調節(jié)范圍：30～540pF
8.準確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%
9．信號源頻率覆蓋范圍10kHz～70MHz
10．合格指示預置功能范圍：5～1000
11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃；
12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
13. S916（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質損耗因數(shù)tanδ測試裝置：
數(shù)顯式微桿
平板電容器：
極片尺寸： 38mm
極片間距可調范圍：≥15mm
夾具插頭間距：25mm±0.01mm
夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
測微桿分辨率：0.001mm
測試極片：材料測量直徑Φ38mm厚度可調 ≥ 15mm
*液體杯：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm
14. 電感組LKI-1：
分別有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九個電感組成。
主機尺寸：（寬×高×深）mm：380×132×280
重量約：7KG
