一、超低硅分析儀 XRF-1430概述
汽油在煉制過程中使用了含硅的試劑或催化劑，這些硅化合物在汽車發(fā)動(dòng)機(jī)中無法*燃燒，時(shí)間一長(zhǎng)硅的沉積物會(huì)造成氧氣傳感器失效等故障，因此汽油中硅元素的檢測(cè)被列入國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)制定范圍之列。
針對(duì)硅元素的檢測(cè)儀器，主要有ICP和XRF兩種方法，相比于ICP方法，XRF方法使用方便，無需專業(yè)經(jīng)驗(yàn)人員即可操作使用，單波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀（MWD XRF）更具有高靈敏度以及*穩(wěn)定性等特點(diǎn)，是輕松應(yīng)對(duì)超低硅含量分析的利器。
依賴高通量雙向曲面彎晶核心技術(shù)，進(jìn)一步提升制造工藝，保證光路系統(tǒng)的精密度，成為世界上shou家真正能夠?qū)⒐铏z出限降低到1 ppm以內(nèi)的X射線熒光光譜儀制造廠家。
比較項(xiàng) | ICP | MWD XRF（DUBHE-1430） |
原理 | 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀 | 單波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀 |
消耗 | 高純氬氣、吹掃用高純氮?dú)?、矩管，消耗約1000元/天 | 無需鋼瓶氣體 樣品杯與樣品膜，消耗4元/樣品 |
結(jié)果準(zhǔn)確性 | 影響因素：氣體純度、燃燒充分性、光柵移動(dòng)重復(fù)性、干擾元素共存譜線 | 只針對(duì)硅元素進(jìn)行高靈敏度檢測(cè)，無任何元素譜線干擾 |
操作方便性 | 需要有經(jīng)驗(yàn)的操作人員，對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)有解析能力 | 使用方便，步驟簡(jiǎn)單，無需經(jīng)驗(yàn)即可操作，操作者對(duì)測(cè)量結(jié)果無影響 |
檢出限 | 硅方法檢出限~0.15 ppm | 硅方法檢出限~0.6 ppm |
ICP與MWD XRF（DUBHE-1430）比較表
測(cè)量原理：單波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀
Monochromatic Wavelength Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer（MWD XRF）
符合標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D7757
二、超低硅分析儀 XRF-1430特點(diǎn)
靈敏：高選擇性檢測(cè)硅元素，檢測(cè)限達(dá)到0.6 ppm，是針對(duì)硅元素靈敏的X射線熒光光譜儀
穩(wěn)定：XFS（X-Ray Fixed System）專li技術(shù)，光路工廠精密調(diào)諧后，不再產(chǎn)生位移或偏差，大限度的保證了儀器的*穩(wěn)定性。
5 ppm汽油樣品，*測(cè)試RSD值小于7%。
快速：單個(gè)樣品準(zhǔn)備時(shí)間小于10 s；單個(gè)樣品分析時(shí)間長(zhǎng)1000 s；開機(jī)10 min內(nèi)即可測(cè)試樣品
經(jīng)濟(jì)：?jiǎn)蝹€(gè)樣品消耗小于4元/樣品，無氣體、溶劑等消耗
方便：使用ESP：Easy Sample Prepare裝置，使得樣品杯與膜成型變得簡(jiǎn)單；長(zhǎng)時(shí)間使用無硬件更換；無需經(jīng)常校正標(biāo)準(zhǔn)曲線
三、技術(shù)參數(shù)
| 序號(hào) | 項(xiàng)目 | 技術(shù)參數(shù) |
| 1 | 低檢出限： | 0.6 ppm（異辛烷基體中硅） |
| 2 | 準(zhǔn)確度： | 2±0.6 ppm,5±0.8 ppm，10±1 ppm |
| 3 | 穩(wěn)定性： | 5 ppm標(biāo)樣連續(xù)測(cè)試15次，RSD值10%以；同臺(tái)儀器15天以內(nèi)測(cè)試（每天兩次），RSD值15%以內(nèi) |
| 4 | 線性： | 0、1、2、5、10、50 ppm硅標(biāo)樣，線性99.9%以上 |
| 5 | 測(cè)試時(shí)間 | 500 s—1000 s |
