X射線鍍層測厚儀提供高性能、快速可靠無損的鍍層厚度測量及材料分析,確保產品質量的*性和高品質。
高分辨率的硅漂移器(SDD)
開槽式超大樣品艙設計
8個準直器
USB接口與計算機連接
我們的牛津X射線鍍層測厚儀 金屬鍍層測厚儀 金屬鍍層分析儀是基于X射線熒光光譜分析技術,該技術已被普遍認可并且得到廣泛應用,可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。
MAXXI 6 配備多準直器系統(tǒng)及超大樣品艙,針對較薄而復雜的樣品,具有*的解決方案。MAXXI 6 可分析固體和液體,元素范圍包括從元素周期表中的13Al到92U。
亮點
采用微聚焦X射線光管,實現高精度、高可靠性、測量時間短、購置成本低
采用高分辨率的硅漂移探測器(SDD),提供能量級別的*效率,極低的檢出限(LOD)
多準直器可優(yōu)化不同尺寸樣品熒光信號產額,提高測量效率
開槽式超大樣品艙設計,十分適合電路板或其他超大平板樣品
“USB接口”只需通過USB與計算機連接,無需額外的硬件或軟件
德國制造,符合zui高工程標準,堅固耐用的設計可實現*可靠性
通過PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)認證,滿足zui高輻射安全標準
性能及符合性
zui多同時測定5層,15種元素及共存元素的校正
同時實現多于25種元素的定量分析
檢測方法通過ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等認證
開槽式大樣品臺
可編程的XY樣品臺
樣品腔體積:500 × 450 × 170 mm
創(chuàng)新的防撞設計
可編程的樣品臺
預定位激光技術
zui大化的樣品臺行程范圍及速度
自動測量
軟件及校準
基于WindowsTM 7操作系統(tǒng),直觀的軟件MaxxControl
選擇經驗校準以實現zui大準確性或選擇FP無標樣模式以輕松實現校準
成分分析:可自由選擇元素;厚度測量:可自定義鍍層結構
對RoHS和貴金屬進行工廠預裝校準(可選)