X射線測厚儀鍍層標準片

鍍層標準片通過A2LA(American Association for Laboratory Accreditation)認證UPA和Calmetrics

UPA和Calmetrics鍍層標準片適用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）、 β-ray（β射線測厚儀）、磁感式及渦電流等多種原理的各種規(guī)格與尺寸。

X射線測厚儀鍍層標準片特色：鍍層標準片A2LA校正認證，質(zhì)量精良，精度高、穩(wěn)定性好
　      X-Ray、β-Ray、磁感式、渦電流式標準片

一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。例如：單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學鍍層：Ni-P/xx。（所有標準片都附有NIST證書）
 

我們除了可以提供X射線測厚儀標準片，鍍層標準片之外，還可以提供β射線測厚儀和庫倫測厚儀標準片，鍍層標準片及庫侖測厚儀的標準測試藥水。并有X射線測厚儀、β射線測厚儀、磁感應測厚儀、渦電流測厚儀、庫侖測厚儀等出售。
我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結(jié)構(gòu)及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片，并附有標準片厚度值NIST證書. 

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，鍍層標準片或者薄膜片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案。

瑞思遠科技是一家精密測試儀器代理商，為顧客提供的產(chǎn)品及服務。 瑞思遠科技在中國地區(qū)代理韓國MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測厚儀及美國Thermo第二代光學準直器X熒光測量儀。此兩種儀器主要用于涂鍍層厚度的測量，而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量，鍍層標準片。

十多年來，瑞思遠科技致力于PCB 廠商、五金電鍍、連接器、LCD、科研機構(gòu)、高校、質(zhì)量檢測中心、半導體、微電子、光電子、光通訊等領域。我們提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和的服務都得到客戶zui高的獎勵，在未來,我們將繼續(xù)履行客戶的期望、要求和需要。