臺(tái)式直讀光譜儀系列介紹
從廢舊金屬中的雜質(zhì)元素的分析、來料檢測(cè)，到鑄造過程中的質(zhì)量控制以及成品檢測(cè)，連貫的質(zhì)量控制在整個(gè)金屬加工行業(yè)中都至關(guān)重要。
臺(tái)式直讀光譜儀系列是用于確定各種金屬的元素組成的非常值得信賴和廣泛使用的分析技術(shù)。
我們的直讀光譜儀(OES)提供準(zhǔn)確性和精確性zui高的分析結(jié)果。功能強(qiáng)大又簡(jiǎn)單易用的軟件包，覆蓋幾乎所有的應(yīng)用范圍。
為何選擇日立分析儀器固定式直讀光譜儀？
對(duì)多種元素的檢出限低
不僅可以分析絕大多數(shù)金屬及其合金中的主量和次量元素，還可以分析痕量的雜質(zhì)元素
zui寬的光譜范圍，覆蓋幾乎所有關(guān)心的元素，包括鋼中的氮
綜合的牌號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)
結(jié)果觸手可及：結(jié)果形式多樣、自動(dòng)存儲(chǔ)
使用既耐用又可靠的技術(shù)，獲得高分析性能
很短的開機(jī)和測(cè)量時(shí)間
三面開放的火花臺(tái)
高分辨率多CCD光學(xué)系統(tǒng)，以獲得*的光譜分辨率
多樣式的結(jié)果，分析報(bào)告和結(jié)果處理選項(xiàng)
通過峰值位置校準(zhǔn)(PPA)確保優(yōu)異的*穩(wěn)定性
即使在惡劣條件下也可持續(xù)使用
日立分析儀器專注于高科技分析解決方案，幫助數(shù)以千計(jì)的企業(yè)降低成本，降低風(fēng)險(xiǎn)，提高生產(chǎn)效率。我們實(shí)驗(yàn)室級(jí)和強(qiáng)大高性能現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)設(shè)備如光電直讀光譜儀、X射線熒光光譜（XRF）、X熒光測(cè)厚儀（鍍層測(cè)厚儀）、激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀（LIBS）、油品分析儀、土壤分析儀等為客戶提供材料和涂鍍層分析，在整個(gè)生產(chǎn)周期中增加價(jià)值，包括從原材料勘探到來料檢驗(yàn)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制到再循環(huán)。
