《所發(fā)布的各款試驗設(shè)備價錢僅為象征性的展示,不能作為實際價,實際價錢以歐可儀器業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報價單為準(zhǔn)》李先生/131*1281*1231
溫濕度+振動綜合環(huán)境試驗箱技術(shù)參數(shù):
型號:OK-ZTH-80 工作室尺寸:40×50×40 箱體尺寸:120×165×115
型號:OK-ZTH-150 工作室尺寸:50×60×50 箱體尺寸:130×170×125
型號:OK-ZTH-225 工作室尺寸:60×75×50 箱體尺寸:140×185×130
型號:OK-ZTH-408 工作室尺寸:60×85×80 箱體尺寸:165×195×155
型號:OK-ZTH-800 工作室尺寸:100×100×80 箱體尺寸:185×200×175
型號:OK-ZTH-1000 工作室尺寸:100×100×100 箱體尺寸:190×210×185
溫濕度+振動綜合環(huán)境試驗箱推薦標(biāo)準(zhǔn)
GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備參數(shù)檢定方法(溫度試驗設(shè)備)
GB/T2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程(試驗A低溫試驗方法)
GB/T2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程(試驗B高溫試驗方法)
GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程(濕熱試驗方法)
GJB150.3-86Jun用設(shè)備環(huán)境試驗方法(高溫試驗)
GB/T 2423.34-2012/IEC 60068-2-38:2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗
GJB899-1990 可靠性鑒定和驗收試驗
GJB899A-2009 可靠性鑒定和驗收試驗
GJB367A-2001 Jun用通信設(shè)備通用規(guī)范
GJB1407-1992 可靠性增長試驗
GB/T 2423.35-2005 / IDT IEC 60068-2-50:1983 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗
GB/T 2423.36-2005 / IDT IEC 60068-2-51:1983 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗
GMW3172-2012 電氣-電子元件通用規(guī)范-環(huán)境/耐久性 9.3.1熱循環(huán)振動