TMS透過(guò)率測(cè)試儀是一套全波長(zhǎng)的透過(guò)率測(cè)量?jī)x，能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類(lèi)平面、球面、非球面等光學(xué)元件的相/透射率，可用于實(shí)時(shí)顯示單、多點(diǎn)波長(zhǎng)透過(guò)率數(shù)據(jù)及波段平均透過(guò)率數(shù)據(jù)。適用于蓋板IR孔、棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽(yáng)膜、濾光片等平面、球面非球面光學(xué)元件及組合鏡頭等的檢測(cè)。紫外透過(guò)率測(cè)量?jī)x專(zhuān)為檢測(cè)樣品紫外波段透過(guò)率設(shè)計(jì)。
透過(guò)率測(cè)試儀優(yōu)點(diǎn)：
1、專(zhuān)為紫外波段透過(guò)率設(shè)計(jì)；
2、儀器精密小巧，攜帶方便；
3、測(cè)試速度極快，1秒出結(jié)果，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢；
4、優(yōu)異的波長(zhǎng)重復(fù)性達(dá)0.1nm；
5、高精度的光度測(cè)定；
6、小化雜散光。
技術(shù)參數(shù)：
型號(hào) | TMS-UV（I型） | TMS-UV（Ⅱ型） | TMS-UV（III型） |
測(cè)量系統(tǒng) | 單光束 | 單光束 | 單光束 |
檢測(cè)器 | Sony線形CCD 陣列 | Hamamatsu背照2D-CCD | Hamamatsu背2D-CCD |
檢出限 | 0.1% | 0.05% | 0.01% |
相對(duì)檢測(cè)誤差 | ﹤0.6%（410-900nm） | ＜0.4%（410-1000nm） | ﹤0.2%（410-1000nm） |
波長(zhǎng)檢測(cè)范圍 | 200-850nm | 200-1100nm | 225-1000nm |
信噪比（全信號(hào)） | 250：1 | 450:1 | 1000：1 |
波長(zhǎng)重復(fù)率 | 0.1nm | ||
樣品測(cè)試平臺(tái) | Z軸可調(diào) | ||
光源 | 氘鹵組合光源 | ||
光斑 | 可調(diào)，≥ Φ0.6mm | ||
樣品大小 | ≥ Φ1.5mm | ||
測(cè)量時(shí)間 | ﹤1s | ||
電源供應(yīng)器 | 24V/200W | ||
操作系統(tǒng)/接口 | Windows XP, Windows 7，8，10/ USB2.0 | ||
軟件 | Qspec Suite V1.0 | ||
體積/重量 | 275mm*200mm*300mm/9.5kg
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