AgilentN7788B光波元件分析儀主要優(yōu)勢
- 通過單次掃描實現(xiàn)高精度: 無需通過多次掃描計算平均值
- 高測量速度
- 10 秒之內(nèi)即可完成 C/L 頻帶中的完整測量(無需等待多個平均值)
- 穩(wěn)定性不受光纖移動/振動和漂移的影響
AgilentN7788B光波元件分析儀
是德制定了使用 N7788B 元器件分析儀進行元器件測量的限制, 其專有技術(shù)可與的瓊斯矩陣本征法(JME)相媲美,瓊斯矩陣本征法是測量光器件的偏振模色散(PMD)或差分群時延(DGD)的標(biāo)準(zhǔn)方法。
是德新的單次掃描技術(shù)具有一系列優(yōu)點,可用于測試全套參數(shù):
- DGD/ PMD
- PDL
- 功率/損耗
- TE/TM 損耗
- 二階 PMD
- 主偏振態(tài)(PSP)
- 瓊斯和米勒矩陣
用于生產(chǎn)車間的設(shè)計
高吞吐量: 在 10 秒鐘內(nèi)對 C 和 L 頻帶進行全面分析!
軟件驅(qū)動程序: 為系統(tǒng)的外部控制提供一系列軟件驅(qū)動程序。 這有助于通用 ERP 系統(tǒng)中的輕松集成。
遠程控制: 支持通過 LAN 或互聯(lián)網(wǎng)對儀器進行控制, 實現(xiàn)自動操作和故障診斷。
報告生成: 支持生成 PDF 格式的報告。 用戶可以配置所有的內(nèi)容(包括版圖)。
實時功率讀數(shù): 提供實時功率讀數(shù)(支持新器件的光纖耦合),可以對非連接的器件進行高吞吐量測量。