環(huán)保在線>產(chǎn)品庫(kù)>儀器主類>分析儀器>其它分析儀器>>電位分析儀

電位分析儀

參考價(jià)	￥ 770
訂貨量	≥1 件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱美國(guó)布魯克海文儀器公司
品牌
型號(hào)
所在地上海市
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
更新時(shí)間2020/4/16 18:07:41
訪問(wèn)次數(shù)371

產(chǎn)品標(biāo)簽:

電位分析儀性能電位分析儀型號(hào)電位分析儀款式電位分析儀用途供應(yīng)電位分析儀

在線詢價(jià)收藏產(chǎn)品點(diǎn)擊查看電話

索取相關(guān)資料

公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

美國(guó)布魯克海文儀器公司（BIC）是世界上的專業(yè)從事設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)顆粒特性表征以及分子量測(cè)定儀器的高技術(shù)公司，其專家組成員包括在光散射研究領(lǐng)域具聲望的科學(xué)家，在他們的*下，并經(jīng)過(guò)*的研究與實(shí)踐，確立了BIC在光散射領(lǐng)域的主導(dǎo)者地位。

九十年代以來(lái)，BIC不斷推出新產(chǎn)品，包括相位光散射原理的Zeta電位分析儀(ZetaPALS)、高濃度粒度分析儀(BI-FOQELS)、實(shí)時(shí)在線粒度測(cè)量系統(tǒng)（ACOS）、數(shù)字相關(guān)器（TurboCorr）、以及多角度激光光散射儀（BI-MwA）與動(dòng)靜態(tài)光散射系統(tǒng)(BI-200SM)等等，這些儀器所采用的技術(shù)都代表著該領(lǐng)域的很高成就。

²一臺(tái)數(shù)字相關(guān)器
²一塊單卡式數(shù)字相關(guān)器
²一個(gè)將背向光散射技術(shù)用于商業(yè)儀器
²一個(gè)使用插入式電極用于Zeta電位測(cè)量
²一個(gè)將X-射線用于粒度分析
²一個(gè)將PALS技術(shù)商業(yè)化
²一個(gè)將CCD檢測(cè)器用于多角光散射
²一臺(tái)實(shí)時(shí)在線粒度測(cè)量系統(tǒng)（ACOS）

BIC全面的光散射儀器為客戶提供系統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)解決方案。目前，BIC的儀器已廣泛應(yīng)用于包括中國(guó)在內(nèi)的各國(guó)頂實(shí)驗(yàn)室的研究中。BIC的總部設(shè)在美國(guó)的紐約，在40多個(gè)國(guó)家設(shè)有分支機(jī)構(gòu)。在中國(guó)設(shè)有技術(shù)服務(wù)中心和3個(gè)代表處，為客戶提供及時(shí)周到的技術(shù)和支持與售后服務(wù)。

展開(kāi)顯示更多內(nèi)容

分析儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

產(chǎn)品種類	在線	加工定制	否

電位分析儀擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性，硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測(cè)量

電位分析儀產(chǎn)品信息

Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀完美結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性，硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測(cè)量，是目前市場(chǎng)上功能強(qiáng)大的粒度與Zeta電位分析儀。

作為先將背向光散射技術(shù)（Back-Scattering）引入高濃度粒度分析的廠家，Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了完美結(jié)合，突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個(gè)散射角度與硬件PALS（相位分析光散射）技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta分析儀。隨著Omni的出現(xiàn)，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性，實(shí)現(xiàn)在同一臺(tái)粒度分析儀中，既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號(hào)，又可以有效地提高了測(cè)量濃度上限，高可達(dá)40%wt；硬件PALS技術(shù)（與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍）的應(yīng)用，*解決了*以來(lái)無(wú)法對(duì)諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測(cè)量條件下（電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒(méi)有足夠的分辨率進(jìn)行測(cè)量）的樣品進(jìn)行分析的難題。Omni是目前市場(chǎng)上功能強(qiáng)大的粒度與Zeta。

NanoBrook產(chǎn)品系列

項(xiàng)目		173	173Plus	Omni	ZetaPALS
功能	粒度測(cè)量功能	●	●	●	○
	分子量測(cè)量功能	●	●	●	○
	Zeta電位測(cè)量功能	○	○	●	●
技術(shù) 參數(shù)	散射角	15°與173°	15°、90°與173°		○
	粒度范圍	0.3nm-10μm			○
	分子量測(cè)定范圍	342～2×10⁷Dalton			○
	相關(guān)器	4×522個(gè)物理通道，4×10¹¹個(gè)線性通道			○
	Zeta電位適用粒度范圍	○		1nm～100μm
	Zeta電位范圍	○		－500mV～500mV
	電導(dǎo)率范圍	○		0-30S/m
	電泳遷移率范圍	○		10^-11～10^-7m²/V.s
	電極	○		開(kāi)放式*型電極
系統(tǒng) 參數(shù)	溫控范圍與精度	－5～110℃，±0.1℃
	激光源	40mW光泵半導(dǎo)體激光器
	檢測(cè)器	PMT或APD
	分析軟件	Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件
	大小及重量	233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg
選件	BI-ZTU自動(dòng)滴定儀	可對(duì)PH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖
	BI-870介電常數(shù)儀	直接測(cè)量溶劑的介電常數(shù)值
	BI-SV10粘度計(jì)	用于測(cè)量溶劑及溶液的粘度