FOUNDRY-MASTER Pro2 落地式光譜儀憑借其高性能及可靠設(shè)計(jì)，以及創(chuàng)新光學(xué)系統(tǒng)和擴(kuò)展的波長范圍，可確保對(duì)重要元素的精確鑒定和痕量分析，儀器擁有極低的檢出限及優(yōu)異的*穩(wěn)定性；分析結(jié)果準(zhǔn)確，重現(xiàn)性好。日立分析儀器運(yùn)用領(lǐng)xian的 CMOS 檢測(cè)器與數(shù)字讀出技術(shù)相結(jié)合，已逐漸成為金屬制造業(yè)、加工業(yè)及鑄造業(yè)的*。日立分析儀器落地式光譜儀的檢測(cè)波長范圍達(dá)到 130-780nm，無論從檢測(cè)下限到檢測(cè)上限都處于*地位。通過更低的波長分析范圍，F(xiàn)OUNDRY-MASTER Pro2 能夠?qū)?C 的檢出限進(jìn)一步降低至 5ppm，同時(shí)能夠更好的分析 Al 中的 P、Na、K 元素。通過結(jié)合創(chuàng)新的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，優(yōu)異的真空環(huán)境，以及全新設(shè)計(jì)的火花臺(tái)，F(xiàn)OUNDRY-MASTER Pro2 將 N 元素的分析下限也發(fā)揮到了極ji致，達(dá)到了 20ppm。

FOUNDRY-MASTER Pro2 落地式光譜儀采用了全新的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，其中結(jié)合了帶優(yōu)化像素分辨率（7pm）的全新 CMOS 固態(tài)檢測(cè)器技術(shù)，全新的光柵分光技術(shù)，代表了全新的直讀光譜技術(shù)。分光系統(tǒng)采用 16 塊 CMOS 作為檢測(cè)器，實(shí)現(xiàn)分析波段內(nèi)的全譜接收。每塊 CMOS 具有 4096 像素，提升了像素分辨率（7 pm），具有更高的動(dòng)態(tài)范圍，量子效率更高，測(cè)量低含量元素時(shí)更穩(wěn)定。針對(duì)等離子態(tài)光譜信號(hào)的觀測(cè)特點(diǎn)，為了獲取*的觀測(cè)角度以獲得*的分析數(shù)據(jù)，日立分析儀器將光室進(jìn)行了特定角度的傾斜放置。