頻雷達物位計
1.2 測量原理
雷達物位計通過天線發(fā)射極窄且能量很低的微波脈沖信號，這個脈沖信號以光速在空
間傳輸，遇到被測介質(zhì)發(fā)生反射，反射信號被儀表接收，發(fā)射脈沖信號與接收脈沖信號的時
間間隔與基準面到被測介質(zhì)表面的距離成正比，通過測量發(fā)射與接收的時間間隔，來實現(xiàn)天
線至介質(zhì)表面距離的測量。
①時間1：產(chǎn)生初始脈沖
②時間2：沿喇叭天線向下行進，速度C（光速）
③時間3：脈沖遇到介質(zhì)表面發(fā)生反射
④時間4：反射脈沖被接收，并被處理器記錄
⑤脈沖信號從被發(fā)射到被接收之間的時間差T，
與基準面到介質(zhì)表面的距離D 成正比：D=C×T/2
⑥測量的基準面是： 螺紋底面或法蘭的密封面
⑦ A:量程B:低位C:滿位D:盲區(qū)
⑧運行時，保證高料位不能進入測量盲區(qū)D
1.3 技術(shù)優(yōu)勢
• 采用高達26GHz 的發(fā)射頻率
• 高頻率與信噪比，是低介電常數(shù)介質(zhì)的選擇
• 波束角小，能量集中，具有更強抗*力，大大提高了測量精度與可靠性
• 測量盲區(qū)更小，對于小罐測量也會取得優(yōu)異效果
• 波長更短，對于小顆粒介質(zhì)與傾斜的介質(zhì)表面的物位測量效果更好
• 測量靈敏、刷新速度快、天線尺寸小、安裝簡便、牢固耐用、免維護
• 非接觸式測量，無磨損，無污染，可測量液體，固體介質(zhì)的物位
• 幾乎不受溫度、壓力、水蒸汽、泡沫、粉塵等復(fù)雜工況的影響
• 采用兩線制回路供電的技術(shù)，供電電壓和輸出信號通過一根兩芯電纜傳輸，節(jié)省成本
• 采用*微處理器和*回波處理技術(shù)，可適用于各種復(fù)雜工況
• 發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內(nèi)，對人體環(huán)境均無傷害
• 帶有按鍵的顯示屏可方便設(shè)置儀表的參數(shù)
1.4 可應(yīng)用的行業(yè)可應(yīng)用的工況
• 化工與石化• 電力• 其他• 中間料倉• 儲倉
• 鋼鐵及冶金• 礦產(chǎn)• 料斗• 儲罐
• 造紙及紙漿• 水及污水• 過程罐• 攪拌罐
• 食品與飲料• 制藥• 其他
產(chǎn)品簡介
應(yīng)用： 固體顆粒、粉塵
頻率范圍： 26GHz
測量范圍： 0-30m
精度： ±10mm
介質(zhì)溫度： -40...250℃
過程壓力： -0.1...4.0Mpa
過程連接： 螺紋、法蘭
防爆等級： Exia II CT6；Exd II CT6
防護等級： IP67
信號輸出： 4...20mA/HART（兩線/四線）
RS485/Modbus
