主要特性
•可與雙晶和單晶探頭兼容。
•寬泛的厚度范圍:0.08毫米~635毫米,根據(jù)材料和所選探頭而定。
•使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測厚。
•穿透涂層和回波到回波測量功能,用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
•內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項(xiàng)。
•對于所有探頭,標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
•使用頻率范圍為2.25 MHz~30 MHz的單晶探頭,高分辨率軟件選項(xiàng)可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
•多層軟件選項(xiàng)可對多達(dá)4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測量。
•高穿透軟件選項(xiàng)用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
•厚度、聲速和渡越時(shí)間測量。
•差分模式和縮減率模式。
•時(shí)基B掃描模式;每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數(shù)。
•帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術(shù)。
•用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。