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便攜式igbt靜態(tài)測試儀-華科智源

參考價 200
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱深圳市華科智源科技有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號HUSTEC-160
  • 所  在  地深圳市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2020/11/5 10:04:36
  • 訪問次數(shù)764
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   深圳市華科智源科技有限公司,是一家專業(yè)從事功率半導(dǎo)體測試系統(tǒng)自主研發(fā)制造與綜合測試分析服務(wù)的高新技術(shù)企業(yè),坐落于改革開放之都-中國深圳,核心業(yè)務(wù)為半導(dǎo)體功率器件智能檢測準(zhǔn)備研制生產(chǎn),公司產(chǎn)品主要涉及SMT*檢測儀,MOS管直流參數(shù)測試儀,MOS管動態(tài)參數(shù)測試儀,IGBT動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀,在線式檢修用IGBT測試儀,變頻器檢修用IGBT測試儀,IGBT模塊測試儀,軌道交通檢修用IGBT測試儀,風(fēng)力發(fā)電檢修用IGBT測試儀,產(chǎn)品以高度集成化、智能化、高速高精度、超寬測試范圍等競爭優(yōu)勢,將廣泛應(yīng)用于IDM廠商、器件設(shè)計、制造、封裝廠商及高校研究所等;
    華夏神州,科技興國,智能創(chuàng)新,源遠流長;華科智源公司 核心團隊由華中科技大學(xué)等國內(nèi)高校研究所、行業(yè)應(yīng)用專家等技術(shù)人才組建,致力于中國功率半導(dǎo)體事業(yè),積極響應(yīng)國家提出的中國制造2025戰(zhàn)略,投身于半導(dǎo)體測試設(shè)備。
    深圳華科智源科技有限公司-,功率器件測試方案供應(yīng)商,2025中國制造 • 芯片設(shè)計及封裝 • 新能源及軌道交通 • 來料選型。

首件檢測儀,首件檢測系統(tǒng),SMT智能首件檢測儀,首樣檢測,首板確認
測量范圍 igbt mos bjt 測量精度 Vcesat Vgeth lces lges
外形尺寸 500(寬)x 450(深)x 250(高)cm;mm 用途 檢修地鐵 汽車
重量 30kg
1)產(chǎn)品型號及名稱:HUSTEC-1600A-MT 便攜式igbt靜態(tài)測試儀-華科智源
機臺可測MOS項目Vf、Vdsat、IGSS、Vgth、BVdss、Rds(on)
便攜式igbt靜態(tài)測試儀-華科智源 產(chǎn)品信息

便攜式igbt靜態(tài)測試儀-華科智源

參數(shù)指標(biāo)

 

1、便攜式igbt靜態(tài)測試儀-華科智源設(shè)備概述

 

1.1

設(shè)備數(shù)量

1套

 

1.2

設(shè)備功能

測試功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)

 

1.3

設(shè)備組成

設(shè)備包含硬件模塊和軟件模塊兩大部分

 

1.4

硬件模塊

設(shè)備硬件部分應(yīng)包括測試主機、測試線纜,測試夾具、控制電腦等

 

1.5

軟件模塊

設(shè)備軟件部分應(yīng)包括:

1.操作系統(tǒng)、備份、保存、編輯、上傳等基本功能;

2.圖形化操作界面;

3.輸出EXCEL、word版測試報告

4.切換大小功率測試模塊,達到相應(yīng)測試精度

5.I-V特性曲線,曲線上測試點數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出到EXCEL表格;

6.同一測試條件的器件的測試曲線可以在軟件內(nèi)進行對比,新測曲線可以與原測曲線進行對比;

2、設(shè)備尺寸

 

2.1

設(shè)備總體長度

500mm

 

2.2

設(shè)備總體寬度

450mm

 

2.3

設(shè)備總體高度

300mm

3、技術(shù)指標(biāo)

3.1

機臺可測試器件類型

二極管、MOSFET、IGBT單管及模組

3.2

機臺可測IGBT項目

及測試范圍

VGE(th)柵極閾值電壓

VCES集射極截止電壓

ICES集射極截止電流

VCE(sat)飽和導(dǎo)通壓降

Iges柵極漏電流

VF二極管導(dǎo)通電壓

可以測5000V,2000A以下的IGBT模塊

3.3

機臺可測MOS項目

Vf、Vdsat、IGSS、Vgth、BVdss、Rds(on)

3.4

 

VGE(th)柵極閾值電壓測量范圍

0.1~10V分辨率:0.001V

 

3.5

VGE(th)

測試條件與精度

VGE:0.1~10V±1%±0.01V;

集電極電流Ic:

10~50mA±1%±0.5mA;

3.6

VCES集射極截止電壓測量范圍

0~5000V 分辨率0.1V

 

3.7

VCES

測試條件與精度

集電極電流ICES:

0.01~1mA±3%±0.001mA;

1~10mA±2%±0.01mA;

10~50mA±1%±0.1mA;

集電極電壓VCES:

0-5000V±1%±2V;

3.8

ICES集射極截止電流測量范圍

0.01~50mA 分辨率 0.001uA

 

3.9

ICES

測試條件與精度

集電極電壓VCES:

50~500V±1%±1V;

500~5000V±1%±2V;

集電極電流ICES:

0.001~1mA±3%±0.001mA;

1~10mA±2%±0.01mA;

10~50mA±1%±0.1mA;

 

3.10

VCE(sat)飽和導(dǎo)通壓降測量范圍

0.001~10V 分辨率 1mV

 

3.11

VCE(sat)

測試條件與精度

 

集電極電壓VCEs:

0.001~10V±0.5%±0.001V

柵極電壓Vge:

5~40V±1%±0.01V

集電極電流ICE:0-1600A

0~100A±1%±1A;

100~1600A±1%±1A;

3.12

Iges柵極漏電流

測量范圍

0.01~10μA 分辨率 0.1nA

 

3.13

Iges

測試條件與精度

柵極漏電流IGEs:

0.01~10μA±2%±0.005μA

柵極電壓Vge:

±1V~100V±1%±0.1V;

Vce=0V;

3.14

VF正向特性測試

測量范圍

0.1~10V 分辨率 0.001V

 

3.15

VF正向特性測試

測試條件與精度

二極管導(dǎo)通電壓Vf:

0.1~10V±1%±0.01V

電流IF:

0~100A±2%±1A;

100~1600A±1%±2A;

15168338725
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