極小目標紅外測溫儀主要特性

低溫測量功能（具體內容請參照以下表格）；

• 65°C溫度條件下光譜響應為700-1650nm
• 125°C溫度條件下光譜響應為1550nm
• 270°C溫度條件下光譜響應為900nm
• 280°C溫度條件下光譜響應為880nm
• 490°C溫度條件下光譜響應為650nm

光斑尺寸小，為0.5毫米（在99%能源條件下）；
響應時間短，僅1毫秒；
精確度+/- 1.5 °C或讀數(shù)的0.15%；
精度0.01 °C（詳見技術資料TN-828）。

簡要描述
Photrix系列是我們精確的測溫儀，擁有行業(yè)內較好的信噪比，可測量低溫，實現(xiàn)小光斑尺寸以及快速響應時間（1毫秒）。標準鏡頭配置有5種光譜響應（波長），
模擬輸出(用戶可選4-20mA或0-10V)、帶有鏡頭吹掃的保護硬件以及多通道接口模塊（單個數(shù)字信號可使用8個傳感器）可供選擇。標準系統(tǒng)包括所有必要的電纜、電源、電腦接口軟件以及存檔/校正系統(tǒng)。
典型應用
具有低輻射率的金屬；
鋁；
銅銦鎵硒(CIGS)薄膜太陽能沉積；
非晶硅薄膜沉積；
激光加熱過程；
直拉晶體生長；
光纖拉絲；
感應加熱。

 

資料下載

PhotriX-Datasheet
 

*解決方案

極小目標紅外測溫儀技術參數(shù)