功率半導體IGBT安全工作區(qū)測試儀

產品系列
晶體管圖示儀
半導體分立器件測試篩選系統(tǒng)
靜態(tài)參數測試（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）
動態(tài)參數測試（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）
環(huán)境老化測試（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）
熱特性測試（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）
可測試 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件

♦產品簡述
     功率半導體IGBT安全工作區(qū)測試儀 系列產品是主要針對 半導體功率器件的動態(tài)參數測試 而開發(fā)設計。通過DUT適配器的轉換，可測試各類封裝外觀的 IGBTs，MOSFETs，DIODEs等功率器件，包括器件、模塊、DBC襯板以及晶圓。產品功能模塊化設計，根據用戶需求匹配功能單元。測試功能單元有DPT（雙脈沖測試 Double Pulse Testing，以下簡稱DPT。包含開通特性、關斷特性、反向恢復特性）柵電荷、短路、雪崩、結電容、柵電阻、反偏安全工作區(qū)等。測試方案*符合IEC60747-9標準。
產品功能及輸出功率進行了模塊化設計，滿足用戶潛在的后期需求，*高測試電壓電流可擴展至10KV/10KA，變溫測試支持常溫到200℃，支持生產線批量化全自動測試。

♦產品特點

? 測試系統(tǒng)電壓以1500V為一個模塊，電流以2000A為一個模塊，可擴展至10KA/10KV
? 內置7顆標準電感負載可選用, 另有外接負載接口,可實現不同電感和電阻負載測試需要(20/50/100/200/500/1000/2000uH)
? 另有程控式電感箱可供選擇
? 針對不同結構的封裝外觀，通過更換 DUT適配器即可
? 可進行室溫到200℃的變溫測試,也可實現子單元測試功能
? 測試軟件具有實驗模式和生產模式，測試數據可存儲為Excel文件
? 門極電阻可任意調整, 系統(tǒng)內部寄生電感為*小至50nH
? 系統(tǒng)測試性能穩(wěn)定,適合大規(guī)模生產測試應用（24hr 工作）
? 安全穩(wěn)定（PLC 對設備的工作狀態(tài)進行全程實時監(jiān)控并與硬件進行互鎖）