PIND顆粒噪聲測試儀
美國SD公司的顆粒碰撞噪聲檢測儀用于電子元器件封裝后，對器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢試驗，目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子，是一種非破壞性實驗。 用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。用于檢測集成電路、晶體管、電容器、空/航天/軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒。
工作原理：顆粒碰撞噪聲檢測（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一種對多余物檢驗的有效手段。其原理是利用振動臺產(chǎn)生一系列定的機(jī)械沖擊和振動，通過沖擊使被束縛在產(chǎn)品中的顆粒（即多余物）松 動，再通過一定頻率的振動，使多余物在系統(tǒng)內(nèi)產(chǎn)生位移?；顒拥亩嘤辔镌诋a(chǎn)品中發(fā)生位移的過程，是多余物相對產(chǎn)品殼體的滑動和撞擊的一個隨機(jī)組合過程。在這個過程中，將產(chǎn)生應(yīng)力彈性波和聲波。這兩種波在產(chǎn)品殼體中傳播并形成混響信號，這個混響信號被定義為位移信號。采用壓電傳感器拾取到位移信號后，經(jīng)前置放大器放大，位移信號由檢測裝置的主機(jī)采集、處理并顯示。檢測人員可以依據(jù)顯示的信號波形判定出信號性質(zhì)，以此得出檢測結(jié)論。
PIND顆粒噪聲測試儀
選型說明：每種型號的顆粒碰撞噪聲檢測儀都包括：控制器，振動臺，傳感器，靈敏度測試單元，軟件，示波器，電纜，耗材及相關(guān)文件。其型號選擇主要根據(jù)被測件的重量和外型尺寸而定，我們的標(biāo)準(zhǔn)配置采用的是M230振動臺可測負(fù)載重量，全頻率范圍內(nèi)為200克，換能器臺面直徑為22mm~150mm，換能器因在其中心區(qū)域50%面積處靈敏度，故實際臺面選擇時換能器面積要略大于被測件 扁平面面積。
設(shè)備用途：用于電子元器件封裝后，對器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測試驗，目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子，是一種非破壞性實驗。用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。
適用領(lǐng)域：用于檢測集成電路、晶體管、電容器、航、航天及相關(guān)軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒。
振動規(guī)格
頻率范圍：25至250Hz，正弦曲線
振幅：5.0至20.0’G’峰值，電腦顯示
振幅程序分辨率：0.1’G’
重復(fù)性：0.5’G’峰值（大于5g），電腦控制
D.U.T.載荷： 200g(整個范圍)
沖擊規(guī)格
方法：沖擊臺反饋控制；自適應(yīng)D.U.T.載荷沖擊
振幅：500至1500’G’可編程
重復(fù)性：50’G’內(nèi)
脈沖寬度：<100微秒在50%振幅下
90-150微秒在10%振幅下
沖擊延遲：程序可調(diào)
D.U.T.載荷：振幅隨負(fù)載輕微下降
能力300克在1000g振幅下(可能需要改變程序值來加大載荷)
載荷規(guī)格
振動臺極限：300克
振動極限：200克 W/傳感器（40-250Hz）
沖擊極限：300克（可能需要增加程序值）
聲波檢測電路：60dB增益+/- 2 dB，150-160KHz軟件帶寬
閾值：動態(tài)調(diào)整
沖擊傳感器規(guī)格
靈敏度：-77.5 dB +/- 3 dB re 1V per 微巴 at 155 kHz
按ANSI2.1-1988標(biāo)準(zhǔn)水下測量。
電纜：整體4通道全屏蔽柔性電纜
電磁干擾保護(hù)：所有電纜全法拉第屏蔽
加速度計規(guī)格
靈敏度：2.1 pc/G +/- 10% 在100 Hz
安裝位置：裝于沖擊傳感器內(nèi)
STU傳感器靈敏度：-77.5 dB +/- 3 dB ref 1V per Microbar at 155 kHz（按ANSI2.1-1988標(biāo)準(zhǔn)測量）
外部STU脈沖器輸出：250微伏+/- 20%
