日本densoku渦流膜厚計DMC-211
日本densoku渦流膜厚計DMC-211
?非常適合于1秒鐘內進行無損測量檢查?
使用個人計算機輕松進行校準和測量操作?
只需將探頭應用于被測物體即可自動捕獲測量值
?特性曲線（校準曲線）是標準的70個存儲器
?每個通道都注冊了公司名稱，部件號，批號
渦流膜厚儀DMC-211的特點
數(shù)字顯示測量值，讀數(shù)
在短時間內（1秒以內），大多數(shù)金屬上的膜（鋁上的氧化膜，鋅/鉻上的鍍層/鉻/鐵上的鍍層），非金屬上的大多數(shù)金屬膜（塑料上的鍍層等）都可以測量，具有破壞性，它是檢查的理想選擇。
使用個人計算機易于操作
通過使用個人計算機可以輕松進行校準和測量等操作。可以選擇各種測量模式，從而易于測量小零件，例如螺絲頭，線材和壓鑄產品。
配備[自動捕獲]模式
在[自動捕獲]模式下，只需將探頭觸碰到要測量的對象并將其釋放，即可自動捕獲測量值。
具有豐富的特性曲線（校準曲線）的存儲器
標準存儲70條自動選擇特性曲線（校準曲線）。如果您有用于特殊材料的標準板，則可以創(chuàng)建并輸入新的特性曲線（校準曲線）。
公司信息渠道注冊功能
可以為每個通道注冊對方的公司名稱，部件號和批號。
頻道總數(shù)：40頻道
配備統(tǒng)計處理功能
可以保存每個通道的測量數(shù)據(jù)，以后可以為測量數(shù)據(jù)設置統(tǒng)計項目以進行統(tǒng)計處理。
測量單位
測量單位是毫米，微米，密耳，密耳。
可以隨時更位，并自動轉換測量值。
測量原理
 | 當載有高頻電流的探頭（測量線圈）靠近金屬時，在金屬表面會產生渦電流。該渦電流受到高頻磁場的強度和頻率，金屬的電導率，厚度，形狀等的影響，并且穿透深度及其大小不同。 然后，渦流流動以抵消探針的高頻磁場，從而探針的高頻電阻值改變。由于高頻電阻的這種變化的幅度通常與薄膜厚度值不成比例，因此通過將其與內置或用戶創(chuàng)建的特性曲線（校準曲線）進行比較，可以將其轉換為薄膜厚度值，并顯示在在計算機屏幕上顯示它。 |
渦流膜厚儀DMC-211的規(guī)格
| 型號（主體） | Dermes DMC-211型 |
| 原則 | 渦流法 |
| 測量方式 | 厚度測量 |
| 通道數(shù) | 40個頻道 |
| 資料容量 | 100,000個數(shù)據(jù) |
| 展示 | 取決于計算機的顯示器屏幕 |
| 統(tǒng)計處理 | 值，最小值，平均值，標準偏差，直方圖，上限和下限設置 |
| 電源 | AC100-240V，50 / 60Hz 10VA（主機） |
| 重量 | 3.0公斤 |
| 尺寸 | 280（寬）x 230（深）x 88（高）毫米 |
（注）規(guī)格如有變更，恕不另行通知。
渦流膜厚儀DMC-211的探頭規(guī)格
| 1. 探頭有效范圍使用超細探頭時 | φ5mm的 φ3mm的 |
| 2.探頭線長 | 900毫米 |
| 3.根據(jù)導向器的類型可以在彎曲的表面上進行測量 | |
| 4.探頭類型 | MP類型...平坦凹凸曲面（標準） SM類型...平坦凹凸曲面（微細的） RP類型...凹面，管內面 SR型...用于小直徑管道內表面 由所述膜測得的探頭A，B的厚度，有C和D四種類型。 |
| 5.探針指南 | ＃180：平面測量 ＃120：φ25-60mm凸曲面測量 |
