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XAVU鍍層測厚儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱江蘇一六儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
  • 更新時間2021/4/16 11:28:21
  • 訪問次數(shù)295
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江蘇一六儀器有限公司坐落于蘇州昆山市,是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)的*。

         公司的研發(fā)團(tuán)隊與海內(nèi)外專家通力合作,開創(chuàng)了基于Alpha系數(shù)和FP算法的第三代核心算法-多元迭代EFP核心算法,開發(fā)了高均值聚集光源的微光聚集技術(shù),在微小面積、異形高低面探測、多層多元素與多層同元素的檢測上,都具備更佳的表現(xiàn)。公司現(xiàn)有*高性能X熒光測厚儀、多功能全自動X熒光測厚儀、多用途全性能X熒光光譜儀、真空腔體*X熒光光譜儀等多個系列幾十種型號儀器,可廣泛的應(yīng)用于涂鍍層、糧食、地質(zhì)地礦、電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。*的技術(shù),專業(yè)的團(tuán)隊,嚴(yán)格的企業(yè)管理是公司得以不斷發(fā)展壯大、產(chǎn)品能夠贏得客戶信賴的根本所在。

分析儀
測量面積:最小0.002mm2鍍層分析:23層鍍層24種元素儀器特點:可變焦對焦儀器優(yōu)勢:同元素不同層:服務(wù)宗旨:一六儀器,品質(zhì)
XAVU鍍層測厚儀 產(chǎn)品信息

XAVU系列能量色散X熒光光譜分析儀,是一款配備SDD探測器的高效率光譜分析儀!


此款產(chǎn)品可適用于固體和液體的含量檢測,用于液體中高含量金屬成分的檢測,滿足高測試精度和高準(zhǔn)確度。

搭配微聚焦X射線發(fā)生器和*的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng),以及高敏變焦測距裝置,可測試極微小和異形樣品。

含量分析檢出限1ppm,可檢測鍍層厚度0.005um ,*小測量面積0.04mm2 · 凹槽深度測量范圍可達(dá)0至30mm,特殊要求可達(dá)90mm。

外置的高精密微型滑軌,可以快速控制樣品移動,移動精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的樣品測試都可輕松操作。


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技術(shù)參數(shù):
1.探測器:半導(dǎo)體冷卻硅漂移SDD探測器

2.探測器分辨率:130±5ev 

3.涂鍍層分析范圍:各種元素及有機(jī)物
4.可一次性同時分析:23層鍍層,24種元素
5.*小測量面積:0.04mm2
6.對焦距離:0-30mm,特殊要求可達(dá)90mm
7.樣品腔尺寸:500mm×360mm×215mm
8.儀器尺寸:550mm×480mm×470mm

9.儀器重量:45kg

儀器配置:
1.微焦X射線發(fā)生器
2.光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)
3.高敏變焦測距裝置
4.半導(dǎo)體冷卻硅漂移SDD探測器
5.*的數(shù)字多道分析
6.高精度微型移動滑軌
7.標(biāo)準(zhǔn)片Ni/Fe 5um
8.標(biāo)準(zhǔn)片Au/Ni/Cu 0.1um/2um



關(guān)鍵詞:光譜分析儀
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