基于激光共焦掃描顯微系統(tǒng)--熒光成像、熒光強(qiáng)度掃描成像、熒光壽命掃描成像、熒光光譜掃描成像
新一代快速熒光壽命成像FastFLIM系統(tǒng)，提供單分子級的靈敏度，檢測波長標(biāo)準(zhǔn)配置范圍：350-1050nm；壽命范圍100ps-100ms；用于化學(xué)、納米、能源、生物等學(xué)科方向，單分子動(dòng)態(tài)、活細(xì)胞、微區(qū)成像及形貌、能級結(jié)構(gòu)和能量傳遞特征的機(jī)理研究，測試速度高達(dá)5fps（512×512），1×1 到 4096×4096成像，采用可視化Phasor plots熒光壽命直讀半圓規(guī)，批量熒光壽命成像數(shù)據(jù)處理進(jìn)入直讀時(shí)代；振鏡掃描適于所有時(shí)間尺度的壽命成像。活細(xì)胞工作站、變溫測試可選用；
主要功能描述：
激光共焦熒光強(qiáng)度成像LCM；
熒光壽命成像FLIM，磷光壽命成像PLIM；
上轉(zhuǎn)換熒光（壽命）成像，稀土發(fā)光（壽命）成像，延遲熒光（壽命）成像；
熒光波動(dòng)成像FFS（FCS，F(xiàn)CCS, PCH，N&B, RICS， FLCS），F(xiàn)LIM-FRET成像；
單量子點(diǎn)發(fā)光（壽命）成像，單分子及單分子熒光共振轉(zhuǎn)移成像，包括交替激發(fā)PIE成像；
穩(wěn)態(tài)及瞬態(tài)偏振成像；
微區(qū)熒光光譜采集及光譜成像；
反聚束測試；
Prof. Joseph R. Lakowicz 實(shí)驗(yàn)室選擇的FLIM系統(tǒng)
數(shù)字頻域技術(shù)DFD-FLIM （FastFLIM）和時(shí)域技術(shù)TD-FLIM （TCSPC）成像技術(shù)；
實(shí)時(shí)直讀式獲得熒光壽命數(shù)值及變化趨勢，F(xiàn)RET效率分布；
選擇300-1600nm波長范圍檢測器，2-4通道檢測器，用于成像，F(xiàn)LIM-FRET；
可以升級無波長干擾AFM，實(shí)現(xiàn)同區(qū)域形貌和FLIM同步測試；
紫外-可見-紅外激發(fā)波長，單波長或超連續(xù)激光器；266nm-1300nm激光器可選；PIE功能可選；白光激光器可選用；
單光子或雙光子的激光器；
