*自動化Contour Elite X三維光學(xué)剖面儀結(jié)合了****的測量能力，在業(yè)界*大的視野和高保真度彩色或單色成像的*高垂直分辨率。沒有任何其他計量系統(tǒng)提供非接觸式精度、吞吐量、操作人員方便和成像能力來解決如此廣泛的生產(chǎn)計量應(yīng)用。為滿足*苛刻的研發(fā)、質(zhì)量保證和過程質(zhì)量控制需求而設(shè)計，Contour Elite X提供了*終的量具能力三維光學(xué)剖面解決方案。
彩色成像與計量相結(jié)合
額外的高保真彩色成像，一家側(cè)照明和**的算法，使等Contour Elite X用戶訪問額外的視角，無法提供的系統(tǒng)，單獨提供計量學(xué)，以及提供可識別的表面特征細節(jié)的報告能力。這使用戶能夠根據(jù)顏色或灰度信息分割數(shù)據(jù)，以快速選擇感興趣的區(qū)域，并從這些特定區(qū)域收集關(guān)鍵的計量數(shù)據(jù)。將優(yōu)異計量學(xué)與觀察、識別和顯示測量結(jié)果的能力結(jié)合起來，不僅對于理解數(shù)據(jù)，而且對于交流結(jié)果，都是非常重要的。
*佳橫向和縱向分辨率
Contour Elite X系統(tǒng)擁有*好的組合橫向和縱向分辨率超過行業(yè)的*大視野，有一個亞納米到大于10毫米的垂直范圍。它包括研發(fā)100獎的針灸XR測量技術(shù)，它提供了打破衍射極限在您的光學(xué)測量。此外，該系統(tǒng)還可以使用一個百萬像素的相機來提高X-Y空間分辨率.從1倍到115倍的大視場和客觀放大使得能夠描述極其廣泛的表面形狀和紋理。
快速無損成像
Contour Elite X型剖析器是一個非接觸系統(tǒng)與一個大的舞臺，使您的樣本或部分完整和未損壞。我們的*利白光干涉測量(WLI)技術(shù)獲得高度數(shù)據(jù)的亞納米精度，是獨立于放大使用。這意味著，即使在一毫米范圍內(nèi)采樣超過一百萬個數(shù)據(jù)點--平方圖像區(qū)域，用戶也能夠在幾秒鐘內(nèi)收集到高分辨率的高度數(shù)據(jù)。
