X射線螢光分析儀(X-ray fluorescence,XRF)是利用X射線照射在分析物質(zhì)上來(lái)進(jìn)行元素定性和定量的分析技術(shù),此測(cè)試方式具有快速、非接觸、非破壞性及多元素分析等特點(diǎn),無(wú)須樣品前處理,無(wú)須液態(tài)氮充填等運(yùn)行成本產(chǎn)生,可快速分析檢測(cè)樣本,具有多種類(lèi)型XRF可廣泛應(yīng)用於各個(gè)領(lǐng)之域中。
WDXRF(波長(zhǎng)分散式XRF)儀器具有非常好的能量解析度,可以得到較少的光譜重疊干擾和改善背景的強(qiáng)度,元素偵測(cè)範(fàn)圍從 Be(鈹) ~U(鈾),濃度範(fàn)圍從低parts-per-million (ppm)至高weight percent (wt%)。
WDXRF(波長(zhǎng)分散式XRF)儀器具有非常好的能量解析度,可以得到較少的光譜重疊干擾和改善背景的強(qiáng)度,元素偵測(cè)範(fàn)圍從 Be(鈹) ~U(鈾),濃度範(fàn)圍從低parts-per-million (ppm)至高weight percent (wt%)。