ATX350高精度超聲波測(cè)厚儀概述
- 采用單晶延遲探頭,利用多次回波提高精度,一方面可以實(shí)現(xiàn)超薄件的測(cè)量,最小厚度(鋼)可達(dá)0.15mm;另一方面可以實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)厚,分辯率可達(dá)0.001mm;
- 兩種測(cè)量模式I—E模式、E—E模式可選;
- 可穿越表面涂層進(jìn)行測(cè)量;
- 探頭放在測(cè)厚儀試塊上按鍵自動(dòng)調(diào)零;
- 具有語(yǔ)音播報(bào)功能;
- 有LED背光顯示,方便在光線(xiàn)昏暗環(huán)境中使用;
- 支持藍(lán)牙通信,可匹配手機(jī)APP、上位機(jī)軟件;
- 測(cè)量范圍:0.15mm~25mm(E—E模式)
- 顯示分辨率:0.001mm
- 測(cè)量誤差:0.005mm
- 測(cè)量頻率:15MHz, 20MHz
- 聲速范圍:1000-9999m/s
- 顯示:128*64 LCD顯示,LED白色背光
- 工作電壓:3*1.5V
- 外形尺寸:155mm*68mm*27 mm
- 整機(jī)重量:230g
- ATX350精密超聲波測(cè)厚儀主機(jī)
- 15M單晶探頭
- 耦合劑
- 堿性電池1.5V
- 文件