VERTEX70v為要求嚴(yán)格的分析和研究應(yīng)用提供了超高性能。創(chuàng)新意義的設(shè)計(jì)成就了該系列譜儀的靈活性和的性能。數(shù)據(jù)采集使用delta-sigma自激型數(shù)/模轉(zhuǎn)換器,該轉(zhuǎn)換器具備真正的24位ADC動態(tài)范圍。布魯克*技術(shù)DigiTect將此數(shù)模轉(zhuǎn)換器與檢測器自帶的電子前置信號放大器整合到一起。限度地避免了外界模擬信號對光譜的干擾,確保了出色的信噪比。
全真空光學(xué)臺設(shè)計(jì)
其全真空的光學(xué)設(shè)計(jì),使VERTEX 70v在中紅外、近紅外及遠(yuǎn)紅外譜區(qū)具備的靈敏度,使用戶無需再擔(dān)心水蒸氣或二氧化碳的吸收會干擾或覆蓋譜圖中極弱的特征信號。該真空譜儀已被廣泛應(yīng)用于納米科學(xué)領(lǐng)域,并成功獲取了亞單分子層薄膜的信息。
BRUKER FM FIR-MIR 光譜
*的布魯克FM技術(shù),您只需一次測量,即可獲得6000 cm-1 至 50 cm-1 的中遠(yuǎn)紅外波段全譜。擁有它,無需再轉(zhuǎn)換任何光學(xué)元件。
寬光譜范圍所用技術(shù)受以下一項(xiàng)或多項(xiàng)保護(hù):US 7034944
應(yīng)用
VERTEX 70v真空光譜儀非常適用于需要高靈敏度、高穩(wěn)定性和高時間分辨率的研究應(yīng)用。低至遠(yuǎn)紅外/太赫茲的光譜范圍,使之還適用于工業(yè)領(lǐng)域的特定應(yīng)用。多功能VERTEX 70v系統(tǒng)通過與適當(dāng)?shù)母郊跋鄳?yīng)的測試技術(shù)相結(jié)合,可為FTIR光譜分析領(lǐng)域幾乎所有需求提供解決方案。
研發(fā)
用于時間分辨以及幅度調(diào)制(AM)相位調(diào)制(PM)光譜的連續(xù)和步進(jìn)掃描技術(shù) (步進(jìn)掃描 / 快速掃描 / 交叉掃描時間分辨光譜 TRS)
超高真空中的FT-IR光譜分析
用于電極表面和電解質(zhì)的原位研究的FT-IR光譜電化學(xué)
蛋白質(zhì)水溶液研究 (CONFOCHECK)
確定分子的構(gòu)型 (VCD)
制藥
通對藥物產(chǎn)品的穩(wěn)定性和揮發(fā)物含量進(jìn)行表征 (TGA-FT-IR)
遠(yuǎn)紅外譜區(qū)區(qū)分活性藥物成分的多晶型物 (BRUKER FM)
聚合物與化學(xué)
遠(yuǎn)紅外譜區(qū)識別聚合物復(fù)合材料中的無機(jī)填料 (BRUKER FM)
聚合物動態(tài)和流變學(xué)研究
測定揮發(fā)性化合物及表征熱分解過程 (TGA-FTIR)
反應(yīng)監(jiān)測和反應(yīng)控制 (中紅外光纖探頭)
識別無機(jī)礦物質(zhì)和顏料
表面分析
薄膜和單分子層檢測與表征
結(jié)合偏振調(diào)制進(jìn)行表面分析 (PM-IRRAS)
材料科學(xué)
光學(xué)和高反射材料(光窗、反射鏡)的表征
通過光聲光譜學(xué)(PAS)研究深色物質(zhì)和深度剖析
材料的發(fā)射行為表征
半導(dǎo)體
硅晶圓中氧和碳含量的測定進(jìn)行質(zhì)量控制
外部附件、源和探測器
VERTEX 70v 真空光譜儀配備五個光束出口端口和兩個光束輸入端口,可隨時升級具有外部測量附件、源和探測器的系統(tǒng)。這包括以下內(nèi)容:
用于 VCD 和 PM-IRRAS 的 PMA 50 偏振調(diào)制附件
PL II 光致發(fā)光模塊
RAM II FT-拉曼模塊和RamanScope III FT-拉曼顯微鏡
TGA-FT-IR 聯(lián)用
HYPERION 系列FTIR顯微鏡
HYPERION 3000 FT-IR 成像系統(tǒng)
HTS-XT 高通量篩選eXTension
IMAC 焦平面陣列宏觀成像附件
外部樣品室 XSA(真空或吹掃)
外部真空密閉的超高真空腔室(UHV)
真空PL/PT/PR測量單元
帶中紅外或近紅外光纖探頭的光纖耦合單元(用于固體和液體)
大型積分球
自動進(jìn)樣器
外接遠(yuǎn)紅外Hg燈光源
的寬帶中紅外-遠(yuǎn)紅外分束器和檢測器(BRUKER FM)
外部發(fā)射適配器
外部高性能中紅外光源
外部真空4位檢測器腔
適用于遠(yuǎn)紅外光譜范圍的輻射熱測量計(jì)