SunScan植物冠層分析儀(專業(yè)版)是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射(PAR)的系統(tǒng),提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息,如葉面積指數(shù)(LAI),專業(yè)版比標準版配置上增加了BF5日照傳感器,用來參照測量直接和散射的入射光,提高測量精度。
SunScan植物冠層分析儀(專業(yè)版)技術規(guī)格:
Sunscan探頭探測區(qū)域:100cm(長)×1.3cm(寬),傳感器間距1.56cm
光譜范圍:400~700nm(PAR)
測量時間:120毫秒
讀數(shù)范圍:0~2500 μmol.m-2.s-1
分辨率:0.3 μmol. m-2.s-1
線性:優(yōu)于1%
精度:±10%
模擬輸出:1mV/μmol. m-2.s-1
通訊端口:RS232,9針D型接口
防護等級:IP65
工作溫度:0~60℃
尺寸:130×10×13cm
重量:1.7kg
供電:4節(jié)AA堿性電池,可以使用1年
掌上數(shù)據管理器:顯示屏1/4 VGA防日光顯示屏
操作系統(tǒng):Windows 6
顯示選項:葉面積指數(shù)(LAI)、平均光合有效輻射、所有單個傳感器的讀數(shù)
防護等級:IP67
工作溫度:-30~+60℃
跌落高度:1.2米
供電:可充電電池,可連續(xù)使用12小時
內存:>100MB可用
尺寸規(guī)格:165×95×45毫米
重量:450克