GCSTD-D新款GCSTD系列 介電常數(shù)諧振腔法測試儀的詳細(xì)資料:
性能特點(diǎn)
■ 測試頻率20Hz~2MHz,10mHz步進(jìn)
■ 測試電平10mV~5V, 1mV步進(jìn)
■ 基本準(zhǔn)確度0.1%
■ 高達(dá)200次/s的測量速度
■ 320×240點(diǎn)陣大型圖形LCD顯示
■ 五位讀數(shù)分辨率
■ 可測量22種阻抗參數(shù)組合
■ 四種信號源輸出阻抗
■ 10點(diǎn)列表掃描測試功能
■ 內(nèi)部自帶直流偏置源
■ 外置偏流源至40A(配置兩臺TH1776)(選件)
■ 電壓或電流的自動電平調(diào)整(ALC)功能
■ V、I測試信號電平監(jiān)視功能
■ 圖形掃描分析功能
■ 20組內(nèi)部儀器設(shè)定可供儲存/讀取
■ 內(nèi)建比較器,10檔分選及計數(shù)功能
■ 多種通訊接口方便用戶聯(lián)機(jī)使用
■ 2m/4m測試電纜擴(kuò)展(選件)
■ 中英文可選操作界面
精度要求
在第5章和附錄 A中所規(guī)定的精度是:電容率精度為士1%,介質(zhì)損耗因數(shù)的精度為士(5%士0.0005)。這些精度至少取決于三個因素:即電容和介質(zhì)損耗因數(shù)的實測精度;所用電極裝置引起的這些量的校正精度;極間法向真空電容的計算精度(見表 1).在較低頻率下,電容的測量精度能達(dá)士(0.1%士。02pF),介質(zhì)損耗因數(shù)的測量精度能達(dá)士(2%士0.00005)。在較高頻率下,其誤差增大,電容的測量精度為士(0.5%士0. 1pF),介質(zhì)損耗因數(shù)的測量精度為士(2%土。.0002).
對于帶有保護(hù)電極的試樣,其測量精度只考慮極間法向真空電容時有計算誤差。但由被保護(hù)電極和保護(hù)電極之間的間隙太寬而引起的誤差通常大到百分之零點(diǎn)幾,而校正只能計算到其本身值的百分之幾。如果試樣厚度的測量能精確士。.005mm,則對平均厚度為 1. 6mm的試樣,其厚度測量誤差能達(dá)到百分之零點(diǎn)幾。圓形試樣的直徑能測定到士0.1%的精度,但它是以平方的形式引人誤差的,綜合這些因素,極間法向真空電容的測量誤差為10.5%e
對表面加有電極的試樣的電容,若采用測微計電極測量時,只要試樣直徑比測微計電極足夠小,則只需要進(jìn)行極間法向電容的修正。采用其他的一些方法來測量兩電極試樣時,邊緣電容和對地電容的計算將帶來一些誤差,因為它們的誤差都可達(dá)到試樣電容的2%-40%。根據(jù)目前有關(guān)這些電容資料,計算邊緣電容的誤差為 10%,計算對地電容的誤差為25 。因此帶來總的誤差是百分之幾十到百分之幾。當(dāng)電極不接地時,對地電容誤差可大大減小。
采用測微計電極時,數(shù)量級是。.03的介質(zhì)損耗因數(shù)可測到真值的士0.0003,數(shù)量級0.0002的介質(zhì)損耗因數(shù)可測到真值的士。.00005。介質(zhì)損耗因數(shù)的范圍通常是。.0001-0.1,但也可擴(kuò)展到。.1以上。頻率在10MH:和20MHz之間時,有可能檢測出。.00002的介質(zhì)損耗因數(shù)。1-5的相對電容率可測到其真值的士20o,該精度不僅受到計算極間法向真空電容測量精度的限制,也受到測微計電極系統(tǒng)誤差的限制
試驗步驟
1 試樣的制備
試樣應(yīng)從固體材料上截取,為了滿足要求,應(yīng)按相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)方法的要求來制備。q氣應(yīng)精確地測量厚度,使偏差在士(0.2%士。.005mm)以內(nèi),測量點(diǎn)應(yīng)均勻地分布在試樣表面。必要時,應(yīng)測其有效面積。
條件處理
條件處理應(yīng)按相關(guān)規(guī)范規(guī)定進(jìn)行。
測f電氣測量按本標(biāo)準(zhǔn)或所使用的儀器(電橋)制造商推薦的標(biāo)準(zhǔn)及相應(yīng)的方法進(jìn)行。在 1MHz或更高頻率下,必須減小接線的電感對測量結(jié)果的影響。此時,可采用同軸接線系統(tǒng)(見圖 1所示),當(dāng)用變電抗法測量時,應(yīng)提供一個固定微調(diào)電容器。
結(jié)果
相對電容率 E,
試樣加有保護(hù)電極時其相對電容率。r可按公式(1)計算,沒有保護(hù)電極時試樣的被測電容Cl,包括了一個微小的邊緣電容 Ce,其相對電容率為:。__Cl,二C
公式中:E,— 相對電容率;Cl,— 沒有保護(hù)電極時試樣的電容;C,— 邊緣電容;Co—
法向極間電容;Co和 C。能從表 1計算得來。必要時應(yīng)對試樣的對地電容、開關(guān)觸頭之間的電容及等值串聯(lián)和并聯(lián)電容之間的差值進(jìn)行校正。測微計電極間或不接觸電極間被測試樣的相對電容率可按表 2、表 3中相應(yīng)的公式計算得來。
介質(zhì)損耗因數(shù) tan8
介質(zhì)損耗因數(shù) tans按照所用的測量裝置給定的公式,根據(jù)測出的數(shù)值來計算。
新款GCSTD系列 介電常數(shù)諧振腔法測試儀
新款GCSTD系列 介電常數(shù)諧振腔法測試儀