PLS Plus激光微地貌掃描儀的詳細(xì)介紹
用途:PLS Plus激光微地貌掃描儀基于三角測(cè)量原理測(cè)量地表微地貌高程,采用激光掃描獲取各點(diǎn)高程,測(cè)量精度可以達(dá)到亞毫米級(jí),測(cè)量過(guò)程無(wú)需接觸土壤表面,解決了測(cè)針?lè)▽?duì)土表擾動(dòng)的弊端,測(cè)量結(jié)果更可靠,能準(zhǔn)確反映地表微地貌的細(xì)微變化。
原理及應(yīng)用:利用線性激光的反射與CCD成像原理,將地表形態(tài)轉(zhuǎn)換成不同物象點(diǎn)位置的電信號(hào),再經(jīng)計(jì)算機(jī)軟件處理成數(shù)字高程模型(DEM),進(jìn)而評(píng)價(jià)土壤侵蝕程度或進(jìn)行相關(guān)機(jī)理研究。相對(duì)于PLS代產(chǎn)品,掃描速度更快,精度更高,采用筆記本電腦采集數(shù)據(jù),野外使用更加方便。
應(yīng)用領(lǐng)域:
■土表微地貌特征評(píng)價(jià)指標(biāo)篩選與算法實(shí)現(xiàn)
■連續(xù)降雨過(guò)程中土表微地貌特征演變
■不同粗糙度土表粗糙度模型建立
■不同坡度剖面侵蝕及侵蝕泥沙分布
實(shí)測(cè)圖:
技術(shù)參數(shù):
■剖面分辨率:0.5 mm
■垂直分辨率:0.1 mm
■測(cè)量寬度:60 cm
■測(cè)量長(zhǎng)度:3 m
■每分鐘可掃描大于400個(gè)剖面
■實(shí)驗(yàn)室和野外都可使用
■沒(méi)有土壤類型限制
■數(shù)據(jù)為XYZ 高程或矩陣數(shù)據(jù)
儀器配置:
主系統(tǒng): ■3米移動(dòng)滑軌(長(zhǎng)度可按要求定制) ■激光器發(fā)射器 ■CCD照相機(jī)及鏡頭 ■筆記本電腦(可選野外筆記本電腦) ■系統(tǒng)控制箱 ■野外使用可選蓄電池或交流電供電(需訂購(gòu)時(shí)說(shuō)明) | 移動(dòng)框架: ■鋁合金框架 ■4個(gè)萬(wàn)向輪 ■4個(gè)水平調(diào)整器 ■掃描儀固定裝置 |
產(chǎn)地:美國(guó)