二極管 | 1 | 反向漏電流 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 4016.4 | 只測: 0~100mA |
半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 4016 | 只測: 0~100mA | |||
2 | 反向擊穿電壓 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 4021.2 | 只測: 0~3.5kV | |
3 | 正向壓降 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 4011.4 | 只測: IS:0A~6000A | |
半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 4011 | 只測: IS:0A~6000A | |||
4 | 浪涌電流 | 半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 4066 | 只測: If:0A~9000A | |
5 | 反向恢復電荷 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3473.1 | 只測: 1nC~100µC | |
反向恢復時間 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3473.1 | 只測: 10ns~2us | ||
6 | 二極管反壓變化率 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3476 | 只測: VR:5V~3300V, IF:1A~1500A | |
7 | 單脈沖雪崩能量 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 4064 | 只測: L:0.01mH~159.9mH, IAS:0.1A~1500A | |
穩(wěn)態(tài)熱阻 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3136 | 只測: Ph:0.1W~80W | ||
8 | 總電容電荷 | 半導體器件 分立器件和集成電路 第2部分:整流二極管 IEC 60747-2:2016 6.1.8 | 只測: -3kV~3kV,0~1MHz | |
西安長禾半導體技術有限公司功率器件測試實驗室(簡稱長禾實驗室)位于西安市*經(jīng)濟開發(fā)區(qū),是一家從事功率半導體器件測試服務的,是CNAS 認可實驗室,屬于大功率器件測試服務中心。
長禾實驗室擁有的系統(tǒng)設備的技術團隊和完善的服務體系。實驗室現(xiàn)有的測試儀器設備100余臺套測試人員20余名。我們緊跟國際國內標準,以客戶需求為導向,不斷創(chuàng)新服務項目和檢測技術,借助便利的服務網(wǎng)絡,為合作伙伴提供的技術服務。
長禾實驗室專注于功率半導體器件的動、靜態(tài)參數(shù)檢測、可靠性檢測、失效分析、溫循試驗、熱阻測試等領域的技術服務。業(yè)務范圍主要涉及國內軌道交通、風力發(fā)電、科研單位院所、工業(yè)控制船舶、航空航天、新能源汽車等行業(yè)。也是第三代半導體(寬禁帶半導體)應用解決方案服務商。
長禾實驗室秉承創(chuàng)新務實的經(jīng)營理念,為客戶提供的服務、完善的解決方案及的技術支持;同時注重與行業(yè)企業(yè)、高校和科研院所的合作與交流,測試技術與服務水平不斷提升。
大功率半導體元器件檢測服務
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