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環(huán)保APP正式上線

X射線熒光光譜儀UTX720BM

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱上海優(yōu)特化工有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2021/12/21 9:50:57
  • 訪問次數(shù)102
產品標簽:

X射線熒光測厚儀

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上海優(yōu)特總部設在中國上海,研發(fā)中心設在美國加州舊金山。公司生產的鍍層測厚儀+RoHS檢測儀器UTX850C,鍍層測厚儀+RoHS檢測儀器UTX750B,RoHS檢測儀器UTX750,鍍層測厚儀UTX650等,主要為電子、PCB、半導體、環(huán)保及IT制造等行業(yè)服務。主要產品為X熒光光譜儀,電化學分析儀器,電鍍生產線自控裝置及設備,SMT,環(huán)保型電鍍添加劑等系列產品。多年來,優(yōu)特以其的技術、的產品品質及全面的服務為用戶所信賴。我們一直致力于*的科學儀器、自控裝置設備及精細化學品的研發(fā)與生產,優(yōu)特公司作為的科學儀器和化學品跨國集團公司,產品和服務已經(jīng)延伸到多個國家和地區(qū) 。作為X射線分析技術的和先導,優(yōu)特公司為眾多行業(yè)提供X射線分析技術的整體解決方案,如家用電器、IT通訊設備、消費類電子電器設備、照明設備、電子電氣工具、玩具和休閑運動設備及其上下游產業(yè)鏈等眾多領域。在很多相關行業(yè),優(yōu)特旗下UTX系列X熒光光譜儀已成為XRF的代名詞。2004年上海優(yōu)特成立,逐步將X熒光光譜儀轉移到國內生產,實現(xiàn)了核心部件從國外采購、主機國內組裝的生產模式。優(yōu)特UTX系列X熒光光譜儀主要致力于歐盟RoHS指令有害元素的檢測、鍍層厚度(膜厚)測試、合金元素分析。
X射線熒光測厚儀
產品簡介UTX720BM是一款多功能的X射線熒光光譜儀,適用于:1、鍍層檢測適合測試尺寸較大的五金、接插件、電氣連接器電鍍,PCB電鍍,塑料、ABS、鎂鋁合金電鍍
X射線熒光光譜儀UTX720BM 產品信息

產品簡介

UTX720BM是一款多功能的X射線熒光光譜儀,適用于:

1、鍍層檢測

適合測試尺寸較大的五金、接插件、電氣連接器電鍍,PCB電鍍,塑料、ABS、鎂鋁合金電鍍。特別適合較薄的Au、Ag、Pd等貴重金屬電鍍。

五金、接插件、電氣連接器電鍍Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP、SnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、AuPdNi合金等;

PCB電鍍Au、Ag、Cu、Ni、NiP、SnPb合金等;

塑料、ABS、鎂鋁合金電鍍Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP等。

 2、鍍液分析

電鍍液中Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn的濃度檢測,以及雜質元素Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn、Fe、Co、Mn、Sb等分析。

 3、合金材料分析

不銹鋼中的Fe、Cr、Ni、Mo等成分

合金鋼中的Fe、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Nb、Mo、Sn、Sb、W、Pb等成分

銅合金中的Cu、Zn、Fe、Cr、Ni、Cu、Zn、、Sn、Sb、W、Pb等成分

鋅合金中的Zn、Cu、Fe、Cr、Mn、Ni、Cu、Zn、、Sn、Sb、W、Pb等成分

焊錫中的Sn、Fe、V、Cr、Ni、Cu、Zn、Nb、Sb、W、Pb等成分

 4、貴重金屬鑒別

黃金飾品的純度檢測以及雜質Ag、Ni、Cu、Zn、Cd、Y、Zr、Rh、Pd等分析

鉑金飾品的純度檢測以及雜質Ag、Ni、Cu、Zn、Cd、Y、Zr、Rh、Pd、Au等分析

鈀金飾品的純度檢測以及雜質Ag、Ni、Cu、Zn、Cd、Y、Zr等分析

銀飾品的純度檢測以及雜質Fe、Ni、Cu、Zn、Cd、Sn等分析

 

產品特點

1、從Al到U的快速元素分析、金屬鍍層厚度檢測

2、檢測靈敏度2ppm到99.99%;鍍層0.01um到35um

3、15-20倍300萬像素高清彩色CCD系統(tǒng)用于樣品圖像觀察

4、φ0.1mm準直器

5、高分辨率SIPIN探測器,提高測量靈敏度

6、探測器電制冷,無需液氮

7、超大樣品倉配合精密調節(jié)電動樣品臺,可以測量特大到特小的各種尺寸樣品

8、FP基本算法軟件。

9、靈活的應用分析軟件。

10、儀器安裝簡單、快速。

技術指標

高壓發(fā)生器

輸入電壓

24VDC±10%

輸出電壓

0-50kV

輸出電流

0-2.0mA

輸出精度

0.01%

備注

有自動軟件偵測功能

X射線管

X射線管靶材

W靶、Rh、Mo、Ag、Cr靶材可選

X射線管窗口

鈹窗

電氣參數(shù)

50W、4-50kV,0-1000uA

冷確方式

電制冷

使用壽命

15000-20000h

探測器

檢測范圍

Al13-U92

分辨率

FWHM達139eV

探測窗口

鈹窗,窗口面積:5-25mm2

厚度

0.5-5mm

鍍層測厚指標

分析范圍

0.01um—45um

層精密度/準確度

相對標準差3%以下(厚度大于0.5um時)

第二層精密度/準確度

相對標準差8%以下(厚度大于0.5um時)

譜處理系統(tǒng)

處理器類型

全數(shù)字化32-bit3 DSP

譜通道數(shù)

256,512,1024,2048可供選擇

計數(shù)率

大于100000cps

能量范圍

500eV-40960eV

死時間

<3%

光路系統(tǒng)和樣品觀測

準直器系統(tǒng)

φ0.1mm

對焦系統(tǒng)

激光鐳射對焦

樣品觀察系統(tǒng)

300萬象素高清CCD攝像頭,20倍光學變焦。

樣品室

樣品室內部空間(mm)

(寬×高×深):450×90×400mm

樣品臺尺寸

(寬×深):250×275mm

樣品臺承載重量

≤5kg

試驗樣品尺寸

寬×高×深:440×80×390mm。

樣品臺控制方式

電動樣品臺

工作臺移動技術數(shù)據(jù)

X=200±5、Y=200±5、Z=80±5mm

工作臺移動精度

0.005mm

計算機和軟件

控制計算機

聯(lián)想品牌機T4900V,512MB內存,80G硬盤

顯示器

聯(lián)想17寸LCD顯示器

操作系統(tǒng)

WindowsXP、OEM簡體中文版

報告結果

Word、Excel格式

軟件

鍍層測厚軟件、鍍液分析、元素分析軟件

軟件類型

FP基本參數(shù)法軟件

軟件語言

簡體中文、繁體中文、英文、其它

譜顯示

自動峰定性,KLM標記,譜重迭比較

譜處理

總強度,凈強度,背景強度;全面積,凈面積,多元素擬合,高斯擬合;對數(shù)譜

資料分析

基本參數(shù),基本譜圖,無標樣測試,峰位修正,底材修正

重量和尺寸

設備主體尺寸(mm)

寬×高×深:W 580×H 635×D 770mm

主體重量

約80kg

使用環(huán)境

工作環(huán)境

溫度15-250C,濕度40-70%RH

電源系統(tǒng)

單相220V±10%,工作電壓在充許范圍內

其它

1.      不要靠近產生強磁場,電場,高頻等裝置

2.      減少振動

3.      粉塵少,濕度低,無腐蝕性氣體

4.      日光不能直射

5.      作為地震的對策,要考慮裝置的固定

15168338725
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