MC016系列顯微熔點(diǎn)儀(數(shù)顯)
MC016系列(SGW X-4)
一、SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀(數(shù)顯)應(yīng)用范圍:
應(yīng)用范圍:測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。
二、SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀(數(shù)顯)技術(shù)參數(shù):
1、熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至
2、測(cè)量重復(fù)性:±
±
3、光學(xué)放大倍數(shù):目鏡10X;物境4X