儀器名稱： | 單晶X射線分析儀 | 型號： | 日本理學XtalAB |
檢測項目： | 晶體結構數(shù)據(jù)采集，晶體結構分析，晶胞參數(shù)， 高溫，常溫 | ||
性能指標： | 1.標準晶體結構測定數(shù)據(jù)還原結果：殘差因子 ≤5% 2. 標準晶體結構解析結果：≤0.05 | ||
應用范圍： | X射線單晶衍射儀用以測定一個新化合物(晶態(tài))分子的準確三維空間, 包括鍵長、鍵角、構型、構像、成鍵電子密度及分子在晶格中的實際排布狀況。該儀器用于化學、藥物學、物理學、分子生物學和材料科學等方面的研究，用于中小分子直至大分子晶體的分子結構分析、構型測定和精密電子密度測定。 | ||
制樣要求 | 樣品必須是單晶 | ||
PS：送樣請附帶“委托測試單”。
測試提示：
1.可開正規(guī)測試發(fā)票，附帶測試清單。
2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員，測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產生損傷，測試后會對樣品產生哪些變化；
3.客戶需提供詳細的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細測試參數(shù)及條件。和測試人員充分討論，商定最終測試條件；
4.測試人員與顧客通過或郵件溝通，出現(xiàn)測試糾紛，郵件或記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請加和技術人員交流：。
5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責任。
