儀器名稱: | X射線熒光光譜分析儀(XRF) | 型號(hào): | 帕納科Axios,銠靶 |
檢測(cè)項(xiàng)目: | 分析元素:定性可以做到F,定量可以到Na | ||
應(yīng)用范圍: | 可進(jìn)行固體、粉末等多種樣品的定性分析和定量分析。 | ||
制樣要求: | 1.定性分析。粉末樣品,粒度不超過180目,需1g以上;塊體樣品,要求表面平整光潔無污染,直徑34-38 mm,厚度為3-5 mm的圓柱; 2.定量分析。只能測(cè)試粉末,需3-5 g; 結(jié)果可以以單質(zhì)或氧化物形式給出。 |
PS:送樣請(qǐng)附帶“委托測(cè)試單”。
測(cè)試提示:
1.可開正規(guī)測(cè)試發(fā)票,附帶測(cè)試清單。
2.有腐蝕性,毒性,或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測(cè)試人員,測(cè)試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測(cè)或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷,測(cè)試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化;
3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料,包括元素,主要成分和詳細(xì)測(cè)試參數(shù)及條件。和測(cè)試人員充分討論,商定最終測(cè)試條件;
4.測(cè)試人員與顧客通過或郵件溝通,出現(xiàn)測(cè)試糾紛,郵件或記錄將作為重要的仲裁依據(jù);請(qǐng)加和技術(shù)人員交流:。
5.杜絕測(cè)試、解析和合成違反國家相關(guān)法律法規(guī)的樣品,一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。