日立掃描電子顯微鏡(SU3800)沿用了已 經(jīng)經(jīng)過驗(yàn)證的GU I界面。另外還搭 載了*的SEM MAP, 而且相機(jī)導(dǎo)航系統(tǒng)提供超大視野導(dǎo)航,為操作人員提供更加貼心順暢的操作體驗(yàn)。
配備了多功能超大樣品倉,可以搭載多種 配件。而且也適用于直徑 20 0 m m {SU3 800 )、可升級為直徑30 0 m m {SU 390 0)的大型樣品。
全更換樣品
通過更換樣品提示,可防止由于與樣品的接觸而損壞設(shè)備或樣品。
自動調(diào)整
通過自動啟動功能和自動光軸調(diào)節(jié)功能, 可以快速觀察。
廣角相機(jī)導(dǎo)航x
廣角相機(jī)導(dǎo)航覆蓋了大觀測區(qū)的整個區(qū)域。
SEM MAP
您可以順利找到目標(biāo)觀察物。
分析解決方案
除了—體化集成 EDS 功能氣以外,還可與其他設(shè)備和軟件聯(lián)用。
Report Creator
可以將SEM /EDS/ SEM MAP 圖像統(tǒng)一任意布局,根據(jù)需求個性化輸出報告。
超多選配項(xiàng)
標(biāo)配超大多功能樣品 倉。可支持In -Si t u 分析。
· 通過鼠標(biāo)操作,可實(shí)現(xiàn)直觀的視野移動
通過點(diǎn)擊或拖拽實(shí)時圖像上的任意位詈,即可移動視野??扇Χ▽?shí)時圖像上的任一位置,被圈定的位置可移動到視野并放大。
· 簡單操作,如同觸屏般直觀
· 從移動樣品臺到樣品觀察 ,輕輕點(diǎn)擊鼠標(biāo)即可實(shí)現(xiàn)。
· 也可觸屏操作。
· 主窗口為1,280x960 像素的大窗口。
· 可以切換顯示模式 ,并且同時顯示/拍攝兩種不同的信號。
· 自動軸距調(diào)整功能
光軸調(diào)整以及更換燈絲之后所需 實(shí)施的各種調(diào)整工作已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了 自動化。由此能夠抑制光軸和視野的偏差,從而再也無需依靠操作人員的技能如何,都可以重現(xiàn)性較好地獲取高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。
配備了電子光學(xué)系統(tǒng)和檢測系統(tǒng)的自動調(diào)整功能。放入樣品并抽真空之后,通過自動啟動功能可以實(shí)現(xiàn)圖像自動調(diào)整,并在電子束照射后立即獲取清晰的圖像。
高度自動化功能采用全新設(shè)計的演算程序,在執(zhí)行圖 像自動調(diào)整功能時,等待時間縮短到以往的1/3以下。不需要繁瑣的畫像調(diào)整,可輕松獲得高通量的圖像數(shù)據(jù)。
搭載Intel ligent Filament Technology(IFT)
· 自動監(jiān)視燈絲的狀態(tài),自動控制,使其一直處于合適的性能狀態(tài)。
· 搭載顯示燈絲更換時間的顯示屏 。
通過該功能,使得原來難以對應(yīng)的長時間連續(xù)觀察以及數(shù)據(jù)分析等大范圍分析均可以安心實(shí)現(xiàn)。
擴(kuò)展了真空模式和檢測功能,以滿足多樣化的觀察需求。除了可以安裝二次電子探測器,以及在任何真空模式下都可操作的高靈敏度半導(dǎo)體式背散射電子探測器之外,還可以安裝 UVD??梢垣@得樣品凹凸信息以及通過電子束照射產(chǎn)生的陰極熒光(CL信息)。
通過采用4分割+l單元的設(shè)計,對每個單元進(jìn)行計算,無需傾斜樣品,即可獲得成分圖像、3D圖像以及4方向凹凸圖像。探測器的設(shè)計十分精巧,且靈敏度高,實(shí)現(xiàn)了高分辨率和高信噪比 。
紅外CCD探測器是用于監(jiān)控樣品 倉內(nèi)部的裝置。通過使用紅外線攝像機(jī),可以在觀察SEM圖像的同時監(jiān)視樣品倉內(nèi)部情況。為了獲得更詳細(xì)的位置,可放大CCD圖 像,并且移動觀察位置。
Zigzag功能可以自動獲取連續(xù)的視野。MultiZigzag 可以在樣品臺的多個區(qū)域設(shè)定Zigzag,在不同的視野中拍攝多張高倍率圖像,并能夠使用Viewer功能來拼接拍攝的圖像從而創(chuàng)建大視野圖像。
與GUI 聯(lián)合的SEM MAP實(shí)現(xiàn)了廣角相機(jī)導(dǎo)航米。 在SEM MAP上觀察目標(biāo)位置 ,可以順利地移動到位置上。使用大視野相機(jī)導(dǎo)航系統(tǒng)拍攝的圖像或外部圖像,通過自由放大或縮小圖像,可以將大視野的彩色圖像切換到高倍率的SEM 圖像。
相機(jī)導(dǎo)航系統(tǒng)通過圖像拼接功能可以實(shí)現(xiàn)大視野的SEM MAP觀察。觀察區(qū)域127mm/直徑200mm , 并且可以與樣品臺R一起聯(lián)動,移動到大型樣品的大觀察區(qū)域。
Hitachimap 3D可對SU3800的5分割背散射電子探測器當(dāng)中的 4個不同方向的SEM信號進(jìn)行演算分析 ,生成三維圖像。支持2點(diǎn)間高度、體積和簡易 表面粗糙度(面粗糙度、線粗糙度)測量。可一次性接收四個不同方向的信號 ,因此,無需傾斜樣品臺或合成圖像。
日立掃描電子顯微鏡(SU3800)使用案例(電子產(chǎn)品):