HPS2526精密方塊電阻測試儀可方便地測量塑料薄膜、金屬鍍層方塊電阻（每平方厘米電阻量值）的儀器。均勻金屬薄層的厚度可用單位面積所體現(xiàn)的電阻表征，由于方阻與鍍層厚度成反比，也就可以由方阻計算出鍍層厚度。 儀器配有結構設計的四探針探頭和面測夾具，使得測試時壓力恒定，接觸可靠，可更詳細地分析薄膜金屬化的質量。
 
HPS2526精密方塊電阻測試儀性能特點

v 超大液晶人性化操作界面

v 點測和面測雙模式兼容

v 測量數(shù)據(jù)自動保持功能

v 超快測量并顯示讀數(shù)

v zui高10檔量程，手動和自動模式

v 檔號顯示及檔計數(shù)功能                                      

v 兼容各種不同材料，系數(shù)任意設定

v 完備的通訊接口可以與PC進行數(shù)據(jù)通訊及對儀器的遠程控制

應用

l   塑料薄膜                                            

l   金屬鍍層                                             

l   金屬化薄膜電容器