透射電子顯微鏡原位STM-TEM測(cè)量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量，并可在電學(xué)測(cè)量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對(duì)樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地?cái)U(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)在標(biāo)配的STM-TEM樣品桿上集成低溫環(huán)境控制單元，從而實(shí)現(xiàn)在透射電鏡中進(jìn)行原位低溫電學(xué)測(cè)量的目的。
性能指標(biāo)
透射電鏡指標(biāo)：
● 兼容電鏡型號(hào)及極靴
● 可選雙傾版本，雙傾電學(xué)測(cè)量樣品桿Y軸傾角±25°（同時(shí)受限于極靴間距）
● 保證透射電鏡原有分辨率。
電學(xué)測(cè)量指標(biāo)：
● 包含一個(gè)電流電壓測(cè)試單元
● 電流測(cè)量范圍：１ nA-30 mA，9個(gè)量程
● 電流分辨率：優(yōu)于100 fA
● 電壓輸出范圍：普通模式±10 V，高壓模式±150 V
● 自動(dòng)電流-電壓（I-V）測(cè)量、電流-時(shí)間（I-t）測(cè)量，自動(dòng)保存
掃描探針操縱指標(biāo)：
● 粗調(diào)范圍：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm
● 細(xì)調(diào)范圍：XY方向18 um，Z方向1.5 um
● 細(xì)調(diào)分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm
低溫參數(shù)指標(biāo)：
● 兼容型號(hào)透射電鏡及極靴
● 全溫區(qū)結(jié)構(gòu)分辨率優(yōu)于0.2 nm
● 變溫范圍為85 K-380 K，溫度穩(wěn)定性優(yōu)于±0.1 K
產(chǎn)品特色
（1）溫度連續(xù)可控，穩(wěn)定性高
（2）低溫下可實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品施加應(yīng)力及電學(xué)研究
以上就是提供的透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，關(guān)于價(jià)格直接咨詢。
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