無接觸少子壽命掃描儀-產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 無接觸和無損傷測量
■ 自動(dòng)測量，具有傳送系統(tǒng)，可進(jìn)行連續(xù)測量
■ 快速測量，測試掃描速度達(dá)到2000mm/min
■ 測試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測量
■ 主要應(yīng)用于硅棒硅塊、硅片的進(jìn)廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等
■ 性價(jià)比高，*程度地降低了企業(yè)的測試成本
無接觸少子壽命掃描儀-*工作條件
■ 溫度：18-26℃
■ 濕度：10%~80%
■ 大氣壓：750±30毫米汞柱 
-技術(shù)指標(biāo)
■ 少子壽命測試范圍:0.5μs-300μs
■ 測試掃描速度:2000mm/min
■ 測試尺寸:215mm*215mm*400mm
■ 電阻率范圍：
P型：0.8Ω.cm-100Ω.cm（范圍之外可測量，但將有一定測試偏差）
N型：0.5Ω.cm-100Ω.cm（范圍之外可測量，但將有一定測試偏差）
■ 激光波長：980±30nm,測試功率范圍：50-500mw
■ 硅棒硅塊掃描間距：≥1mm
■ 儀器測試精度：±3.5％，信號處理偏差≤2％
■ 工作頻率：10GHz±0.5
■ 微波測試單元功率：0.01W±10%
■ 電源：～220V 50Hz 功耗＜200W
■ 主機(jī)尺寸：365mm * 645mm *565mm
■ 主機(jī)重量：30KG
北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司是一家硅材料檢驗(yàn)儀器及服務(wù)提供商，提供全面的硅料、單晶硅片、多晶硅片等成套檢驗(yàn)設(shè)備及*解決方案。同時(shí)，拉單晶生產(chǎn)所需的輔料也是我公司主營范圍之一
硅材料檢測設(shè)備，拉單晶輔料，藍(lán)寶石檢測
無接觸少子壽命掃描儀 產(chǎn)品信息
