功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)集多種測量和分析功能一體,可精準測量功率器件(MOSFET、BJT、IGBT等)的靜態(tài)參數(shù),電壓可高達3KV,電流可高達4KA。該系統(tǒng)可測量不同封裝類型的功率器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性,uΩ級電阻,p電流精準測量等特點。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容,如輸入電容,輸出電容、反向傳輸電容等。
普賽斯以自主研發(fā)為導向,深耕半導體測試領(lǐng)域,在I-V測試上積累了豐富的經(jīng)驗,先后推出了直流源表,脈沖源表、高電流脈沖源表、高電壓源測單元等測試設(shè)備,廣泛應用于高校研究所、實驗室,新能源,光伏,風電,軌交,變頻器等場景。
功率器件:
?二極管
?三極管
?MOS管
?IGBT
?SIC
?GaN
?高電壓:支持高達3KV高電壓測試;
?大電流:支持高達4KA大電流測試;
?高精度:支持uΩ級電阻、p電流、uV級精準測量;
?豐富模板:內(nèi)置豐富的測試模板,方便用戶快速配置測試參數(shù);
?配置導出:支持一鍵導出參數(shù)配置及一鍵啟動測試功能;
?數(shù)據(jù)預覽及導出:支持圖形界面以及表格展示測試結(jié)果,亦可一鍵導出;
?模塊化設(shè)計:內(nèi)部采用模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計,可自由配置,方便維護;
?可拓展:支持拓展溫控功能,方便監(jiān)控系統(tǒng)運行溫度;
?可定制開發(fā):可根據(jù)用戶測試場景定制化開發(fā);
PMST系統(tǒng)配置 | 關(guān)鍵參數(shù) | 備注 |
P系列 | PW高達30V/10A、300V/1A | 柵極特性測試 |
CW高達300V/0.1A、30V/1A | ||
最小脈沖寬度200uS | ||
HCP系列 | PW高達30V/100A | IGBT導通壓降、二極管瞬時前向電壓測試 |
CW高達10V/30A | ||
最小分辨率30uV/10pA | ||
最小脈沖寬度80uS | ||
HCPL系列 | 單臺PW高達12V/1000A,可多臺并聯(lián) | |
最小脈沖寬度50uS | ||
E系列 | CW高達3000V/100mA | IGBT擊穿電壓測試 |
最小分辨率10mV/100pA | ||
測量精度 0.1% | ||
電橋 | 頻率范圍:20Hz~1MHz | IGBT各級間電容測試 |
HVP系列提供0~400V直流偏置電壓 S系列提供0~30V直流偏置電壓 | ||
預置偏置電阻100kΩ | ||
矩陣開關(guān) | / | 電路切換及源表切換 |
主機 | / | |
測試夾具 | 根據(jù)器件封裝形式定制 |