臺式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級
我們以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察”為理念，開發(fā)出TM4000系列。 在此基礎(chǔ)上，我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。 為您提供全新的觀察和分析應(yīng)用。 |  |
觀察圖像3分鐘?？裳杆佾@得所需數(shù)據(jù)，并制作報告。
觀察與分析的靈活性
自動獲取各類數(shù)據(jù)?？焖偾袚Q！
可快速獲得元素分布圖*2
*1TM4000PlusⅡ的功能。
*2選配
使用Camera Navi*的話，就是如此簡單
Camera Navi圖像讓您輕松找到視野，分布圖(MAP)功能全程支持您的觀察
操作簡單且快捷
觀察圖像只需 3 分鐘。
可快速觀察圖像，并導(dǎo)出測試報告。
Report Creator可讓您輕松制作報告
只需選擇圖像和模板，就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報告
即便是絕緣物樣品，也無需預(yù)處理，就可直接進行觀察。
“靜電減輕模式”可抑制靜電現(xiàn)象
對于容易產(chǎn)生靜電的樣品，可使用“靜電減輕模式”，在抑制靜電的狀態(tài)下進行觀察。
只需用鼠標(biāo)在軟件上點擊即可切換到“靜電減輕模式”。
可在低真空的條件下進行多種觀察
對于容易產(chǎn)生靜電的粉末或含水等樣品，可結(jié)合其目的進行觀察。
可在低真空的條件下進行二次電子像（表面形狀）觀察。
無需預(yù)處理，也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面
不僅是觀察傳統(tǒng)的導(dǎo)電性樣品，還可以在無預(yù)處理的條件下觀察絕緣物和含水、含油樣品?？煽焖龠M行二次電子像與背散射電子像之間的切換。
高感度低真空二次電子檢測器
采用高感度低真空二次電子檢測器(UVD)。通過檢測由于電子線與殘留氣體分子之間的碰撞而產(chǎn)生的光，可以觀察帶有二次電子信息的圖像。此外，通過控制該檢測器，來檢測電子照射所產(chǎn)生的光，可以獲得CL信息（UVD-CL：帶有CL信息的圖像）。
高感度低真空二次電子檢測器的檢測原理
可支持加速電壓20 kV
TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。
憑借EDS分析（選配），可進行更高計數(shù)率解析。
通過加速電壓20 kV，實現(xiàn)EDS元素分布圖的高S/N化
Multi Zigzag（選配）
可實現(xiàn)在廣域范圍內(nèi)進行SEM觀察。
搭配自動馬達(dá)臺，可實現(xiàn)低倍率，高精度，大范圍的觀察分析。
EM 樣品臺（選配）
可輕松觀察 STEM 圖像
與全新開發(fā)的 STEM 樣品臺和高靈敏度低真空二次電子檢測器(UVD)配合使用，可輕松觀察小倍率 STEM 圖像。
可輕松觀察薄膜樣品和生物樣品。
樣品：研磨劑
加速電壓：20 kV
觀察信號：(a) STEM 圖像, (b) 背散射電子像
放大倍率：10000 倍
| 項目 | TM4000PlusII | TM4000II |
|---|---|---|
| 倍率 | ×10～×100,000（照片倍率） ×25～×250,000（顯示器倍率） | |
| 加速電壓 | 5 kV、10 kV、15 kV、20 kV | |
| 圖像信號 | 背散射電子 二次電子 復(fù)合圖像（背散射電子+二次電子） | 背散射電子 |
| 真空模式 | 導(dǎo)電體（僅背散射電子） 標(biāo)準(zhǔn) 靜電減輕 | 標(biāo)準(zhǔn) 靜電減輕 |
| 樣品可移動范圍 | X：40 mm Y：35 mm | |
| *大樣品尺寸： | 80 mm（直徑） 50 mm（厚度） | |
| 電子槍 | 集中燈箱(Pre-Centered Catridge Filament) | |
| 檢測器 | 背散射電子：高感度4分割 背散電子檢測器 二次電子：高感度低真空 二次電子檢測器 | 背散射電子：高感度4分割 背散射電子檢測器 |
| 排氣系統(tǒng) （真空泵） | 渦輪分子泵：67 L/s 1臺 隔膜泵：20 L/min | |
| 尺寸與重量 | 主體：330（寬度）×614（進深）×547（高度） mm、54 kg（附帶馬達(dá)驅(qū)動的樣品臺） 主體：330（寬度）×617（進深）×547（高度） mm、54 kg（附帶手動樣品臺） 隔膜泵：144（寬度）×270（進深）×216（高度） mm | |
