產(chǎn)品特點(diǎn)及性能參數(shù):
1、產(chǎn)品通用性高,只需換顆粒限位框,即可測試尺寸不同的顆粒(寬度≤13MM 長度≤14MM);
2、產(chǎn)品全新設(shè)計,相比以前更薄,預(yù)留插槽卡位,不需轉(zhuǎn)接槽可直接插到測試板上進(jìn)行測試,
3、把頻率衰減降到,減少誤測;
4、有球無球均可測試,顆粒壓板通過使用高精度自適應(yīng)彈簧保證每個 IC 平衡下壓;
5、采用手動翻蓋滾軸式結(jié)構(gòu),操作省力方便,相比同類產(chǎn)品減少磨損,達(dá)到更高的使用壽命;
6、采用中國臺灣廠家生產(chǎn)的內(nèi)存顆粒測試專用 PCB,金手指、IC 焊盤鍍金層是普通 PCB 的5倍,保證測試治具有更好的導(dǎo)通和耐磨性 ,相比同類產(chǎn)品具有更好的超頻性能及使用壽命;
7、采用帶定位孔內(nèi)存顆粒測試專用 PCB,探針板與 PCB 孔定位,保證探針與 PCB 精確定位,如有損壞用戶可自行更換維修,簡單方便,減少返廠維修,為客戶爭取寶貴時間;
8、采用超短進(jìn)口雙頭探針設(shè)計,相比同類測試產(chǎn)品使 IC 與 PCB 之間數(shù)據(jù)傳輸距離更短,從而使測試更穩(wěn)定,頻率更高,DDR4 系列頻率2133MHZ起步;
9、探針板采用定位銷加螺絲結(jié)構(gòu),在使用過程中如有探針損壞,客戶可自行更換維修,方便
維護(hù),為生產(chǎn)爭取寶貴時間;
10、高精度合金 IC 定位框,保證 IC 定位精確,取放 IC 方便,從而提高測試效率;
11、測試壽命長,有效測試 10 萬次以上;(視使用環(huán)境及相關(guān)操作而定)