連接器冷熱沖擊試驗箱是用于測試手機連接器，電腦連接器，電源連接器，信號連接器，PCB連接器，F(xiàn)PC連接器，電感器、濾波器、變壓器，電子，電器，電子產(chǎn)品，電子元器件，數(shù)碼產(chǎn)品，手機，電腦，太陽能組件，光伏組件，光纖，光電，LED，LCD，PCB，F(xiàn)PC，微電子，電機，，航天，航空，汽車燈產(chǎn)品及零部件在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在最短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。
連接器冷熱沖擊試驗箱滿足的試驗方法：
GB/T2423.1-1989低溫試驗方法；
GB/T2423.2-1989高溫試驗方法；
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；
GJB150.5-86溫度沖擊試驗；
GJB360.7-87溫度沖擊試驗；
GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式
IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化
GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則
GB/T 2423.22-2002溫度變化
QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則
EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估
試驗箱工作示意圖：
