TM系列專用能譜儀（EDS） Quantax75
操作簡單且直觀
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- :和TM4000Plus搭配應(yīng)用實(shí)例
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- :探測器內(nèi)置型
(制造商: 德國Bruker nano GmbH)
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特點(diǎn)
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規(guī)格
特點(diǎn)
通過簡單操作即可迅速獲取彩色X射線面分布
移動(dòng)到位置，可實(shí)時(shí)確認(rèn)其譜圖
雙屏顯示
僅需選擇圖像和模板，即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時(shí)，實(shí)時(shí)顯示點(diǎn)分析、線分析結(jié)果等多種分析。
超高的性能（hyper map）成就了一次測試即可獲取點(diǎn)分析、線分析、面分布結(jié)果
點(diǎn)分析
可根據(jù)點(diǎn)位置移動(dòng)實(shí)時(shí)追蹤譜圖，輕松確認(rèn)目標(biāo)元素。
實(shí)時(shí)在線譜峰剝離面分布
分離出常規(guī)面分布圖像中的譜峰重疊元素，并顯示正確結(jié)果。
規(guī)格
検出器
| 項(xiàng)目 | 內(nèi)容 |
|---|---|
| 探測器類型 | 硅漂移探測器 |
| 探測器面積 | 30 mm2 |
| 能量分辨率 | 148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα時(shí)不高于129 eV) |
| 可檢測元素 | B5～Cf98 |
關(guān)聯(lián)產(chǎn)品分類
- 掃描電子顯微鏡 (SEM)
- TEM/SEM樣品的前處理裝置
