全功能SEM滿足多用戶實驗室綜合應用需求
Prisma TM EX 掃描電鏡結合了全面的成像性能和環(huán)境模式(ESEM),同時配置了全功能EDX探測器實現強大的元素分析。
如今的研究對象已經超出簡單金屬和涂層樣品的范疇。Prisma EX 分析SEM 可生成高質量的圖像和分析,從金屬、斷口和拋光片等傳統(tǒng)樣品,到不導電軟材料。Prisma EX 是適用于當前和未來研究應用的靈活解決方案。它具有三種成像模式(高真空、低真空和ESEM™),能夠處理的樣品類型很多。
有了UltraDry EDS 探測器和Pathfinder 軟件平臺提供的快速準確元素分析,樣品表征才變得完備。
Prisma EX具有易用、靈活的用戶界面及各種功能,提高工作效率,并收集所有數據。導航功能包括自動導航拼接、雙擊載物臺移動、拖動縮放和其他有用的標準功能。SmartSCAN™ 技術用于執(zhí)行智能掃描策略,從而減少噪點,提供更好的數據。
更好的數據。更大的靈活性。更高的效率。Prisma EX 為您的投資帶來更大的價值。
主要優(yōu)勢
在自然狀態(tài)下對材料進行原位研究:在各種操作模式下分析導電和不導電樣品, 同步獲取二次電子像和背散射電子像。
縮短樣品制備時間:低真空和環(huán)境真空技術可針對不導電和/或含水樣品直接成像和分析,樣品表面無荷電累積。
配備Pathfinder 軟件平臺的UltraDry 探測器提供的 完備EDS 解決方案。
• EXTREME 元素面分布,并且在實時和處理后都對每個像素進行背景扣除、峰值反卷積和定量分析
• 自動漂移補償
• 為離線分析和處理提供無限軟件許可
優(yōu)異的不導電樣品分析功能:借助多級穿過透鏡的真空系統(tǒng),實現高質量EDS 和 低真空分析。
利用穩(wěn)定的大束流 (高達2μA)電子光學系統(tǒng),實現快速、準確的分析快速、準確的分析。
高精度優(yōu)中心樣品臺,105°傾斜角度范圍,可觀察樣品
軟件直觀、簡便易用,配置用戶向導及Undo(撤銷)功能,新手用戶可進行高效操作,專家用戶也可進行更少的操作,完成快速分析。