HIOKI IM3536 LCR測試儀
HIOKI這次發(fā)售了LCR測試儀IM3536。IM3536具備4Hz~8MHz寬頻率范圍,實(shí)現(xiàn)高速、高精度測量。滿足電子元件的研發(fā)和生產(chǎn)等多種領(lǐng)域的要求。
LCR測試儀IM3536的特點(diǎn)
測量頻率4Hz~8MHz,精度保證范圍1mΩ和測量范圍擴(kuò)大
以往產(chǎn)品(3532-50)的測量帶寬為42Hz~5Mhz,而IM3536的帶寬擴(kuò)大到了4Hz~8MHz。因此,可以測量用于各種領(lǐng)域中的電子元件的特性。特別是,頻率8MHz適用于高頻化的電源用電感的測量。
而且,精度保證范圍比起以往產(chǎn)品10mΩ以上,IM3536的精度保證為1mΩ以上,因此也適用于有低頻化要求的電容等的測量。
和以往產(chǎn)品相比,實(shí)現(xiàn)高速、高精度測量
IM3536和以往產(chǎn)品相比改善了測量時(shí)間和基本精度。
比起以往產(chǎn)品的測量時(shí)間為5ms(0.005秒),IM3536是1ms(0.001秒),測量速度提高了4倍。因此,用于電子元件的產(chǎn)線中時(shí),有助于提高產(chǎn)量。
而且,相對于以往產(chǎn)品的基本精度(代表值)0.08%,IM3536為0.05%,因此適用于有高精度要求的電子元件。
連續(xù)測量功能,1臺即可完成不同條件的檢查
在電子元件的評估中,有時(shí)會需要對1個(gè)電子元件需要按照不同條件和項(xiàng)目來測量。以往產(chǎn)品因?yàn)闇y量條件的切換時(shí)間和測量時(shí)間較慢,所以這類多種條件檢查會需要多臺測量儀器。
IM3536的測量條件的切換和測量實(shí)現(xiàn)了高速化,而且IM3536具備連續(xù)測量功能(不同測量項(xiàng)目連續(xù)測量的功能),因此1臺IM3536就可以完成以前多臺測量儀器才能完成的測量。 這樣,可以簡化產(chǎn)線中所用自動檢查機(jī)的結(jié)構(gòu),從而實(shí)現(xiàn)低價(jià)化。
具備提高檢查品質(zhì)的接觸檢查功能
檢查時(shí),發(fā)生測試探頭的斷線、和被測物的接觸不良時(shí),可能存在測量誤差變大等影響測量值準(zhǔn)確性的現(xiàn)象。為了防止此類事情,標(biāo)配了能夠知道測試探頭斷線和接觸不良的接觸檢查功能。由此有助于提高檢查的品質(zhì)。
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