德國布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）可以提供更高的重復(fù)性和分辨率，測量重復(fù)性可以達(dá)到5Å。臺階儀這項性能的提高達(dá)到了過去四十年Dektak技術(shù)，更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT一定能夠做到功能更強(qiáng)大，操作更簡易，檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。
 

臺階儀Dektak XT能實現(xiàn)：
·  使用溫度條件：10-30℃；濕度：≤80%，無冷凝

·  的性能，臺階高度重現(xiàn)性低于4埃
·  Single-arch設(shè)計提供具突破性的掃描穩(wěn)定性
·  *的“智能電子器件”設(shè)立了新低噪音基準(zhǔn)
·  新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時間縮短40%
·  64-bit，Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù)分析速度提高了10倍
·  頻率，操作簡易
·  直觀的Vision64用戶界面，操作簡易
·  針尖自動校準(zhǔn)系統(tǒng)
·  布魯克（Bruker）以實惠的配置實現(xiàn)高的性能
·  單傳感器設(shè)計，提供單一平面上低作用和寬掃描范圍

       建立在40多年的探針輪廓技術(shù)的知識和經(jīng)驗之上薄膜測試儀，在基于微處理器的輪廓儀，和300mm自動輪廓儀DektakXT繼承了以往的。新的DektakXT是首部single-arch設(shè)計的探針輪廓儀，首部內(nèi)置真彩高清光學(xué)攝像機(jī)，及安裝64-bit并行處理架構(gòu)已獲得測量及操作效率的探針輪廓儀
       有超過一萬臺設(shè)備，品牌Dektak以質(zhì)量、可靠性及高性價比著稱。當(dāng)需要臺階高度、表面粗糙度、可靠測量時，人們就會借助Dektak。引進(jìn)DektakXT，Bruker能讓您進(jìn)一步獲得可靠及表面測量

提高數(shù)據(jù)采集和分析速度
       利用的直接驅(qū)動掃描平臺，Dektak XT減少了掃描間的時間，而沒有影響分辨率和背景噪聲。這一改進(jìn)大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對于表面應(yīng)力長程掃描（就探針輪廓儀而言，通常是耗時的）的掃描速度。在保證行業(yè)的質(zhì)量和重現(xiàn)性前提下，DektakXT可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作軟件Vision64，它可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數(shù)據(jù)分析。Vision64還具有行業(yè)內(nèi)有效的直觀用戶界面，簡化了實驗操作設(shè)置，自動完成多掃描模式，讓重復(fù)和常規(guī)的實驗操作變得更快速簡潔。