1.1 測量原理
儀器以恒定的工況流量將空氣吸入顆粒物切割器中,以PM2.5為例,動力學直徑在2.5um附近及以下的顆粒污染物進入到儀器的富集系統(tǒng)中。經(jīng)過一段時間的富集后,富集系統(tǒng)自動切換成β射線分析系統(tǒng),利用β射線的衰減與顆粒物的質(zhì)量濃度成指數(shù)的關(guān)系,對顆粒物的質(zhì)量濃度進行分析。然后卷膜系統(tǒng)地將富集有空氣顆粒物的濾紙移動到X射線熒光分析系統(tǒng),分別利用X射線熒光的能量和強度對顆粒物中的元素成分進行定性和定量的分析。
大氣重金屬監(jiān)測示意圖
X射線熒光光譜技術(shù)(XRF)的原理見圖所示,可以直接檢測固體或液體樣品中ppm量級的元素成分。采用富集后再檢測的辦法,使得XRF技術(shù)對空氣顆粒物中的重金屬成分的檢測限優(yōu)于0.001ug/m3。而常規(guī)實驗室的檢測技術(shù),由于預處理消解過程中需要將微克量級的樣品溶解到幾十克的液體中,而使得濃度被稀釋百萬倍,從而多數(shù)儀器(譬如ICP-AES、或原子吸收光譜儀)無法檢出元素含量低于10ug/m3量級的空氣顆粒物樣品。
X射線熒光光譜技術(shù)原理圖
1.2 性能特點
(1)空氣顆粒物濃度、大氣重金屬濃度一體式協(xié)同測量,為污染溯源及源解析提供更數(shù)據(jù);
(2)TSP、PM10、PM2.5三種切割器可供用戶選擇,應(yīng)用于不同的環(huán)境評價場合;
(3)鉛、鎘、砷等30多種重金屬含量測量,低檢出限在pg/m3量級;
(4)從光管、探測器、數(shù)字多道分析器(DCMA)到整機,數(shù)十項XRF核心技術(shù)發(fā)明;
(5)具有技術(shù)證書和測試報告,儀器的可靠性、準確性得到充分驗證。
1.3 技術(shù)參數(shù)
HA-X202大氣重金屬監(jiān)測儀技術(shù)參數(shù)
名稱 | 性能參數(shù)及要求 |
檢測技術(shù) | (1)重金屬的測量方法基于美國EPA方法IO-3.3的非破環(huán)性X射線熒光(XRF)原理; |
測試內(nèi)容 | (1)可監(jiān)測TSP/PM10/PM2.5空氣顆粒物(PM)質(zhì)量總濃度; |
測量結(jié)果 | 用戶可以自由選擇如下三種測量結(jié)果: |
檢測范圍 | 重金屬,0~100μg/m3; |
低檢出限 | pg/m3量級 (采樣時間4小時、流速16.7L/min); |
重現(xiàn)性 | 重金屬,RSD < 1% (Pb的標準樣片); |
采樣分析時間 | 30~1440分鐘連續(xù)采樣,可自定義。采樣流量(0~20)L/min 可調(diào)節(jié),DHS 動態(tài)加熱。采樣與分析同時進行,無采樣間隔。 |
采樣濾膜 | 采樣濾膜為PTFE濾紙材質(zhì),對0.3μm顆粒物的截留效率≥99.7% ,不含重金屬元素成分; |
安全防護 | 輻射劑量符合《X射線衍射儀和熒光分析儀衛(wèi)生防護標準》規(guī)定,具有相關(guān)部門X射線表面輻射劑量檢測報告,距離機箱5cm處,輻射劑量小于2.5μGy/h; |
質(zhì)控要求 | (1)儀器具備流量自動校準功能; |
分析軟件 | (1)提供設(shè)備配套數(shù)據(jù)分析管理軟件,開放通訊協(xié)議,可接入已有數(shù)采平臺;中文操作界面,觸摸屏操作,顯示實時采樣流量,采樣時間,測量狀態(tài),重金屬濃度值、含量曲線等信息。 |