2.5次元產(chǎn)品是二次元測量儀基礎上的升級版本,常規(guī)我們二次元都是對二維平面尺寸的產(chǎn)品檢測,但在日常工業(yè)中不少客戶單獨二維平面尺寸的測量無法滿足要求,還需要對產(chǎn)品臺階、深度的一個檢測,而買一臺又過于的昂貴,基于多方因素市場上研發(fā)出2.5D光學測量以滿足相關客戶的特殊需求:祥興儀器公司推出的2.5次元分為兩類產(chǎn)品,類是光學對焦測高型2.5次元測量儀,第二類是探針輔助測高型2.5次元,由于光學對焦測高對產(chǎn)品表面有很高要求目前一般客戶采用的都是探針接觸式測高2.5次元測量儀,客戶可以根據(jù)自身產(chǎn)品特點選擇測量的相關產(chǎn)品。
主要特點 采用“HIWIN”P級直線導軌和精密V型滾珠導軌,保證機器精度及使用壽命。 立柱和底座采用堅實的花崗巖結構、穩(wěn)定可靠。 配備多功能2.5D測量軟件,自動尋邊,影像測高。 配備可移動可拆卸的儀器專用桌。 高清卡位變倍鏡頭和高分辯率CCD,實現(xiàn)產(chǎn)品高清晰度測量。 測量結果可輸出Word 、Excel、CAD等格式。 可導入DXF文件進行快速檢測。 XVM-F2.5次元測量儀系列技術參數(shù) 型號 XVM-2010F XVM-3020F XVM-4030F 測量范圍(mm) 200x100x200 300x200x200 400x300x200 外型尺寸(mm) 750*1300*1500mm 750*1300*1500mm 900*1400*1500mm 重量(kg) 160 170 250 承重(kg) 20 25 25
.客戶可根據(jù)自身產(chǎn)品需求選配英國Renishaw MCP探針接觸式測高功能
測量精度(μm): 3+L/200
重復精度(mm):0.003
測量方式:影像
光柵尺: 1.0μm分辯率開放式玻璃光柵尺
圖像傳感器CCD: HC536 1/3英寸600線工業(yè)彩色相機
導軌: Z軸:“HIWIN”P級直線導軌 X、 Y軸:精密V型導軌
光學系統(tǒng): 6.5:1連續(xù)變倍卡位鏡筒
放大倍率: 光學放大倍率:0.7-4.5X;影像放大倍率:24-158X
軟件: 手動2.5D測量軟件
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