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Contour X 白光干涉光學(xué)輪廓儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2022/11/25 14:26:38
  • 訪問次數(shù)214
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司,經(jīng)過十多年的紫外光專業(yè)技術(shù)沉淀,可以根據(jù)客戶特殊要求提供定制化服務(wù),研發(fā)設(shè)計(jì)組裝:紫外臭氧清洗機(jī)(UV清洗機(jī)),準(zhǔn)分子清洗機(jī),等離子清洗機(jī)/去膠機(jī)等科研以及生產(chǎn)設(shè)備,擁有自主品牌及注冊商標(biāo)。 同時(shí)我們代理歐美日多家高科技設(shè)備廠家高性價(jià)比產(chǎn)品, 始終堅(jiān)持創(chuàng)新, 技術(shù), 服務(wù), 誠信的企業(yè)文化,為廣大中國及海外客戶提供的儀器設(shè)備和材料的整體解決方案。 應(yīng)用領(lǐng)域: 半導(dǎo)體/微納,光電/光學(xué), 生命科學(xué)/生物醫(yī)療等領(lǐng)域的研發(fā)和生產(chǎn), 客戶群體例如高等院校, 研究所,科技企業(yè)及醫(yī)療機(jī)構(gòu)等。 半導(dǎo)體/微納,光電/光學(xué) 產(chǎn)品主要有: 德國ParcanNano(Nano analytik)針尖光刻機(jī),電子束光刻機(jī), 激光直寫光刻機(jī),紫外光刻機(jī),微納3D打印機(jī),德國Sentech刻蝕機(jī)/鍍膜機(jī)及原子沉積,英國HHV磁控/電子束/熱蒸發(fā)鍍膜機(jī),微波離子沉積機(jī)MPCVD,芬蘭Picosun原子層沉積機(jī),電子顯微鏡, 德國Bruker布魯克原子力顯微鏡/微納表征/光譜儀, 美國THERMO FISHER賽默飛光譜/色譜/質(zhì)譜/波譜儀,美國Sonix超聲波顯微鏡, 德國耐馳Netzsch熱分析儀, 德國Optosol吸收率發(fā)射率檢測儀, 日本SEN UV清洗機(jī)/UV清洗燈,美國Jelight紫外清洗機(jī)/紫外燈管,德國Diener等離子清洗機(jī)等*技術(shù)產(chǎn)品。 生命科學(xué)/生物醫(yī)療 產(chǎn)品主要有:PCR儀,核酸質(zhì)譜儀/核酸檢測儀,電子顯微鏡,紫外設(shè)備,光譜/色譜/質(zhì)譜/波譜儀,生物芯片,試劑,實(shí)驗(yàn)耗材等。 并可依據(jù)客戶需求,研發(fā)定制相關(guān)產(chǎn)品。我們以高性價(jià)比的優(yōu)勢為客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù),為高等院校, 研究所,科技企業(yè)及醫(yī)療機(jī)構(gòu)等客戶提供儀器設(shè)備和材料。
布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 Contour X, 滿足微納米表面測量需要
Contour X 白光干涉光學(xué)輪廓儀 產(chǎn)品信息

布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 Contour X, 滿足微納米表面測量需要

簡介:

•桌面型精巧款式

•采集數(shù)據(jù),自動(dòng)測量,分析和數(shù)據(jù)后處理,一氣呵成的完備方案

•樣品尺寸:

•150 mm x 150 mm x 92 mm

•承載 4.5 kg

•垂直分辨率: < 0.01nm @ 所有視場下

•橫向分辨:

•0.3µm (±150nm)

•AcuityXR 0.15µm (±75nm)

•基于白光干涉原理,結(jié)果可溯源

白光干涉技術(shù)內(nèi)在優(yōu)勢

垂直分辨率

普適性,易于操作、各種樣品類型與表面

計(jì)量

硬件,為性能所做優(yōu)化

物鏡,為挑戰(zhàn)性測量專門設(shè)計(jì)

完備的自動(dòng)化測量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)配置

的縫合功能

針對不同應(yīng)用下,提升效率

ContourX

關(guān)鍵好處

高質(zhì)量計(jì)量

作為桌面型輪廓儀

布魯克白光干涉輪廓儀

專為您的應(yīng)用服務(wù)

•從每日測試挑戰(zhàn)到滿足嚴(yán)苛要求,可靠的表面計(jì)量

•不同應(yīng)用示例:展示布魯克白光干涉獨(dú)到之處

•薄膜與鍍層

•精密加工

•材料研究

•MEMS與傳感器

•光學(xué)元器件

•半導(dǎo)體

•摩擦學(xué)

薄膜與鍍層:表面粗糙度與厚度,的準(zhǔn)確性

表面粗糙度與平整度

滿足您的嚴(yán)苛要求

材料研究:表面紋理,揭示最微小的細(xì)節(jié)


MEMS和傳感器

關(guān)鍵尺寸– 質(zhì)量控制,匹配您的所有需求

關(guān)鍵尺寸– 質(zhì)量控制,完備的自動(dòng)化組件

光學(xué)元器件:全頻譜密度的粗糙度信息

光柵與光學(xué)器件,亞微米計(jì)量

微型光學(xué)形貌表征

缺陷偵測


半導(dǎo)體:質(zhì)量監(jiān)控與工藝開發(fā),匹配您的應(yīng)用需求

質(zhì)量監(jiān)控與工藝開發(fā),完備的軟件平臺(tái)

關(guān)鍵尺寸– 質(zhì)量控制

完備的自動(dòng)化組件

摩擦學(xué)

表面紋理與磨損體積(速率)

滿足您對準(zhǔn)確性的需求

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