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SZ-100V2納米粒度儀

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  • 公司名稱(香港)鴻華科技有限公司
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  • 更新時間2022/11/27 17:14:42
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(香港)鴻華科技有限公司是一家專業(yè)的精密儀器設備綜合解決方案集成商 ,專注精密儀器設備(科學儀器、試驗儀器設備、工業(yè)檢測儀器)研發(fā)、銷售及售后服務,向政府檢驗機構、大學高校、科研院所、工業(yè)企業(yè)及其他領域的各級實驗室/測量室供應中精密儀器設備,并提供相關技術支持和售前/售后服務,同時可提供相關增值服務。鴻華科技有限公司憑借在精密儀器設備行業(yè)積累的豐富經驗和資源優(yōu)勢,著眼于國內大中型城市的主要市場區(qū)域,在現有客戶群體中已贏得良好聲譽,是具有較強競爭力的儀器設備集成供貨商。目前我們已在香港、廣州、上海、北京、鄭州、長沙、成都等地設有公司或辦事處,以香港公司鴻華科技有限公司為運營中心,以廣州公司為營銷中心,銷售網絡已涉足華南、華東、華中和華北區(qū)域。 我們擁有優(yōu)秀的儀器設備銷售團隊和技術服務團隊,團隊核心成員具備豐富的儀器設備行業(yè)從業(yè)經驗,目前我們已經與眾多品牌精密儀器設備廠商建立起緊密的合作關系。經營范圍 主營:分析儀器、物理性能測試儀器、計量儀器、電子測量儀器等中精密儀器設備研發(fā)、銷售、售后服務及相關增值服務(儀器設備搬遷/安裝調試/培訓/維修保養(yǎng)、儀器設備租賃、分析測試服務、實驗室設計裝修、儀器設備代理進出口等)兼營:精密儀器設備領域涉及的分析測試軟件、新材料、化學試劑/耗材、輔助機械設備、治工具、自動化系統(tǒng)、儀器儀表元器件/零部件等研發(fā)、銷售和售后服務服務行業(yè) 高校實驗室,科研院(所),質量監(jiān)督檢驗系統(tǒng)、出入境檢驗檢疫系統(tǒng),汽車零部件、機械、五金、塑料、模具、電子電器、化工、食品、藥品、農產品、環(huán)保等相關企業(yè),及其相關行業(yè)的第三斱檢測機構。 主營產品 通用分析儀器01 、色譜分析儀器:氣相色譜GC、液相色譜LC、離子色譜IC; 02、光譜分析儀器:分子熒光分光亮度計、原子吸收光譜AAS、原子熒光光譜AFS、近紅外光譜NIR、紅外光譜IR、紫外分光亮度計UV、光電直讀光譜儀、電感耦合等離子光譜儀ICP、拉曼光譜RAMAN; 03、質譜分析儀器:氣質聯用GC-MS、液質聯用LC-MS、等離子體質譜ICP-MS; 04、X射線儀器:X射線熒光光譜儀XRF、X射線衍射儀XRD、 X光電子能譜儀XPS、 X射線應力分析儀、電子探針、X射線探測裝置CT; 05、電子顯微鏡:透射電鏡TEM、掃描電鏡SEM、原子力顯微鏡AFM、掃描探針顯微鏡SPM、電子背散射衍射系統(tǒng)EBSD、X射線能譜儀EDS、離子減薄儀、超薄切片機、離子研磨儀、高真空濺射鍍膜儀、冷凍干燥儀; 06、其他:光學顯微鏡、電位滴定儀、電化學工作站、電導率儀、PH計、 水分測定儀。 物理特性測試儀器 01、力學性能測試儀(材料試驗機、硬度計、粒度儀、金相前處理設備、表面接口張力儀、接觸角測量儀、粘度計、力學工具); 02、無損檢測/探傷儀器(X射線/超聲波/滲透/磁粉探傷儀、工業(yè)內窺鏡、工業(yè)CT、電焊焊接分析儀); 03、光學顯微鏡、測厚儀、環(huán)境試驗箱; 量具量儀01、長度計量儀器((三坐標測量機、影像測量儀、三維拍照式掃描儀、激光跟蹤儀、激光全站儀、工業(yè)經緯儀、工具顯微鏡、投影儀、激光干涉儀、測高儀、量具);02、表面形狀測量儀器(輪廓儀、粗糙度儀、臺階儀、圓度/圓柱度儀);03、力學計量儀器(天平、標準測力計、壓力計、真空計、流量計、密度計);04、聲學計量儀器(聲級計、噪聲計);05、光學計量儀器(亮度計、色度計、光輻射計、光反射/透射計);06、溫度計量儀器。電子電工儀器01、通用電子測量儀器(直流穩(wěn)壓/穩(wěn)流電源、信號發(fā)生器、示波器、數字頻率計、掃頻儀、集成電路測試儀、頻譜分析儀)02、射頻和微波測試儀器(EMI/EMC測試系統(tǒng)、射頻和微波測量系統(tǒng));03、大規(guī)模集成電路測試儀器。實驗室常規(guī)儀器設備 、電子天平、分析天平、臺秤、離心機、萃取機、反應釜、干燥箱、烘箱、馬弗爐、恒溫水浴/油浴鍋、純水機、攪拌器、球磨機、微波消解儀、冷凍機、防暴冰箱、通風柜、、手套箱。環(huán)境空氣監(jiān)測儀器 煙氣分析儀、粒子計數器、氣體采樣器、多成分氣體分析儀、氣體校準儀、零氣發(fā)生器。
SZ-100V2 系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質方面是靈活的分析工具。根據不同的配置和應用程序可以完成顆粒度的分析,zeta電位的檢測,分子量(Mw)以及第二維利系數(A2)的測定。SZ-100V2的典型應用包括:納米顆粒,膠體,乳液以及亞微米懸浮液。
SZ-100V2納米粒度儀 產品信息

產品特點

顆粒分析儀采用動態(tài)光散射原理(DLS)。根據樣品的物理性質,動態(tài)測量范圍為0.3 nm – 10 µm。檢測范圍的下限受到以下因素的影響:樣品濃度、樣品對光的散射強度以及大的雜質顆粒的存在。檢測上限受樣品濃度影響,因為DLS原理是顆粒的布朗運動而不是重力沉降。

SZ-100V2 以顆粒表面電荷特性來檢測懸浮液的zeta電位。將樣品注入一次性樣品池,通過顆粒電泳遷移率的結果計算zeta電位。 zeta電位通常是樣品分散穩(wěn)定性的一個指標。Zeta電位的數值較大表明顆粒帶電較多,斥力較大,較難發(fā)生團聚,溶液保持穩(wěn)定。通常根據pH值或其他化學參數的改變檢測zeta電位以便于設計可長時間保存的產品。相反地,發(fā)現zeta電位為零時(就是說,樣品處于等電點),就要考慮選擇條件將顆粒進行絮凝和分離。

SZ-100V2 還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。用戶準備幾個已知濃度的溶液,然后使用系統(tǒng)的靜態(tài)光散射模式繪制Debye曲線,從而計算出Mw和A2。

特征

將粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數的檢測集于一身

寬檢測范圍,寬濃度范圍

雙光路雙角度粒徑測量(90° 和173°)

多重粒徑測量模式用于小顆粒和微弱散射光

用于粒徑和zeta電位檢測的微量樣品池

自動滴定儀:可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定

SZ-100V2納米粒度儀樣本

15168338725
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